IC-Charakterisierung von -40° bis +200°C
Plug-and-Play-Temperaturkontrollsystem für ICs
4. September 2017, 14:30 Uhr |
Matthias Heise
ICs müssen in einem großen Temperaturbereich zuverlässig funktionieren. Für die Charakterisierung des Temperaturverhaltens bietet EMC eine neues Testsystem an.
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Um das Temperaturverhalten von ICs im Labor zu charakterisieren, bietet EMC ein portables Thermal-Force-System an. Die Lösung besteht aus einem Controller und einem thermischen Kopf, der direkt mit dem Prüfling verbunden wird.
Die Probe kann von -40 °C gekühlt bzw. bis +200 °C geheizt werden. Das System hat eine Kühlleistung von bis zu 70 W bei -40 °C. Ein PT100 Sensor bestimmt dabei die Gerätetemperatur mit einer Genauigkeit von ±0,5 °C. Bei Übergangsraten von 50 °C/min kann der Temperaturbereich in weniger als 5 Minuten durchgefahren werden.
Da das Equipment ohne Kühlmittel auskommt, eignet es sich auch für einen nicht ortsfesten Einsatz im Labor. Bei Temperaturen unter 17 °C wird die Probe automatisch mit trockener Luft umspült, um Vereisungen zu verhindern.
Adapter für die Verwendung mit gesockelten Prüflingen stehen zur Verfügung bzw. werden kundenspezifisch angepasst.
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