Ab dem 18. November stand die elektroniknet.de-Welt wieder ganz im Zeichen der Mess- und Prüftechnik. Im Rahmen der Online-Themenwoche haben wir Sie eine Woche lang mit spannenden, teils überraschenden Fachinformationen versorgt.
Über einen umfassenden Grundlagenbeitrag über das Brot-und-Butter-Messgerät eines jeden Entwicklers, das Oszilloskop, hinaus haben wir Ihnen einige interessante Neuentwicklungen aus diesem Bereich der Messtechnik vorgestellt. Aber auch eine bahnbrechende Entwicklung aus dem Bereich der PCIe-Messtechnik hat im Laufe der Woche auf sich aufmerksam gemacht.
Einen weiteren thematischen Schwerpunkt bildete die Messtechnik im Zusammenhang mit Fragestellungen rund um die elektromagnetische Verträglichkeit und elektrische Entladung. In mehreren Beiträgen haben wir aufgezeigt, wie Entwickler leitungsgeführte Störaussendungen prüfen und beseitigen können und wie die Nahfeldanalyse im Mikrometerbereich gelingen kann.
Zu den spannenden Neuentwicklungen, die wir Ihnen im Rahmen der Themenwoche vorgestellt haben, gehört auch ein kompaktes, gerade mal Milchtüten-großes Testsystem für die Charakterisierung analoger und digitaler Strukturen, das ein Forscherteam am IMMS entwickelt hat. Darüber hinaus haben wir eine Case Study aus dem Bereich der Wärmebildtechnik für Sie vorbereitet.
Datenlogger dürfen in einer Themenwoche Mess- und Prüftechnik natürlich nicht fehlen. Wie sich Datenlogger für die hochpräzise Lade-/Entladeprüfung an Hochspannungsbatterien empfehlen, beleuchtet ein weiterer Beitrag.
Angereichert wurde die Online-Themenwoche durch vielfältige Produkt- und Hintergrundinformationen sowie durch Markt- und Anbieterübersichten.
Für den Fall, dass Sie im Laufe der Woche einen Beitrag verpasst haben oder einen Artikel nochmal nachlesen möchten, haben wir Ihnen nachfolgend alle Beiträge nochmal übersichtlich zusammengefasst.