Schwerpunkte

Göpel Electronic

Neue Stör- und Trigger-Möglichkeiten für CAN-FD

12. Februar 2019, 14:00 Uhr   |  Nicole Wörner

Neue Stör- und Trigger-Möglichkeiten für CAN-FD
© Göpel Electronic

basicCAN6153.STM CAN FD Stress- und Triggermodul von Göpel Electronic

Göpel Electronic hat das Stress- und Triggermodul basicCAN6153.STM für CAN FD erweitert. Das Modul kann gezielt die CAN/CAN-FD-Kommunikation stören bzw. manipulieren und ermöglicht so genaue Protokolltests.

Das Modul verfügt über einen Trigger-Ein- und -Ausgang, über den sich externe Ressourcen ansteuern lassen.

In der neuesten Version erfolgt die Konfiguration der Störliste automatisch. Zudem verfügt das Modul über erweiterte Trigger-Möglichkeiten (CRC-Delimiter, ESI, Stuff Bit Counter, Start of Frame, Error Frame).

Zusätzlich lässt sich nun auch die Kommunikation im Bereich des Stuff Bit Counters gezielt stören. Das basicCAN6153.STM unterstützt die Störfunktionen für CAN-FD und für das Standard-CAN-Protokoll auf einem der vier konfigurierbaren Ports.

Als Host Interface steht Ethernet zur Verfügung; alternativ werden PXI, PCI und USB angeboten.

Die Parametrierung erfolgt über die Göpel Electronic API, somit lässt sich das Modul nahtlos in anwenderspezifische Lösungen integrieren.

Auf Facebook teilenAuf Twitter teilenAuf Linkedin teilenVia Mail teilen

Das könnte Sie auch interessieren

AOI, AXI, SPI und elektrischer Baugruppentest
Temperaturaufzeichnung für alle Lötprozesse
Schnellere 3D-Prüfung für Lötverbindungen
Viscom-Spitze stellt sich neu auf
Steuerung mit WLAN-Schnittstelle
Mobile Reiniger-Konzentrationsmessung
AOI-Systeme jetzt auch für The-Hermes-Standard gerüstet
»Viscom steht für Kontinuität – auch weiterhin!«
Bibliothek erweitert
Generationswechsel bei Göpel Electronic
Röntgeninspektion trifft KI
Spatenstich für neues Customer Solutions Center
Intel Arria 10 SoCs über JTAG-Schnittstelle prüfen
Ferngesteuerte Rotorblatt-Inspektion
Advantest kauft Test-Systems-Bereich von Astronics
Neuer Geschäftsführer für Yxlon
Neue Messmethode für die Wafer-Inspektion
Was wurde aus der Null-Fehler-Rate?
»Wir wollen in der gesamten Value-Chain wachsen«
Effiziente Schutzlack-Inspektion
Neue Funktionen für die Prozessoptimierung
Kontaktstifte für schwierige Prüfbedingungen

Verwandte Artikel

GÖPEL electronic GmbH