Auf Halbleitermaterialien basierende Thermistoren sind mit positivem (PTC) und negativem (NTC) Temperaturkoeffizienten verfügbar. Ein Vergleich der beiden Messmethoden, die häufig zur Temperaturmessung eingesetzt werden, zeigt, dass externe Spannungsquellen und ein Vorwiderstand (mit der ihm eigenen Toleranz) potenziell Einfluss auf die Messgenauigkeit des Systems haben. In vielen Anwendungen empfiehlt sich die ratiometrische Technik als Alternative, um die Einflüsse von Schwankungen externer Bauteile zu kompensieren.
Referenzen/Literatur
[1] Voltage Measurement Accuracy, Self-Calibration, and Ratiometric Measurements. Whitepaper, Campbell Scientific, 2001.
[2] Vemuri, A.T.; Sullivan, M.: Ratiometric measurements in the context of LVDT-sensor signal conditioning. TI Analog Applications Journal, 3. Quartal 2016.
[3] Simon, J.; Protasenko, V.; Lian, C.; Xing, H.; Jena, D.: Polarization-induced hole doping in wide-bandgap uniaxial semiconductor heterostructures. Science 327, Nr. 5961 (2010), S. 60-64.
[4] Mancini, R.: Worst-case circuit design includes component tolerances. EDN, 15. April 2004.
Über den Autor
Hadi Ebrahami ist Design- and Verification-Engineer bei Texas Instruments. Zuvor war er bei TI als Modellierer und Konstrukteur für Leistungselektronik tätig. Er hat Elektrotechnik studiert und darin promoviert. Seine Schwerpunkte liegen in der Schaltungs- und Systementwicklung, Nanomaterialien und Wide-Bandgap-Halbleitern für Leistungselektronik.