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»3D-AOI – es gibt keine 'schönen' 3D-Bilder!«

11. August 2017, 13:50 Uhr | Nicole Wörner

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Fortsetzung des Artikels von Teil 3

Ist die Technologie daher verwerflich und unnütz?

Wir sind der Meinung, dass eine clevere Kombination aus verschiedenen 2D- und 3D-Technologien dieser Problematik entgegentreten kann. Höhenmessungen auf absorbierenden Oberflächen funktionieren meist sehr gut mit der oben beschriebenen Technologie, während reflektierende Oberflächen hier eher Probleme bereiten.

Selbst Rückspiegelungen von mit Streifenlicht beaufschlagter reflektierender Oberflächen (z.B. weiße Stecker, USB-Buchsen) machen eine Messung dann an dieser Stelle unmöglich – weil sich die Streifen überlappen (Bild 5).

Die Messung ist aber gerade bei immer kleiner werden Strukturen…

...sehr wichtig. So werden z.B. bei Anwendungen mit 01005-Bausteinen die Pads sehr gern verkleinert, um Grabsteineffekten zu begegnen. Damit entsteht aber auch der klassische Meniskus nicht mehr – die Lotstelle wird rampenartig bzw. das Bauteil liegt auf dem Lotkissen.

Ob das dann noch eine gute Lötstelle ist,…

...kann man nur „ertasten“ – sprich messen. Hier ist dann die Eintauchtiefe, aber insbesondere die Verkippung des Bausteines das Qualitätskriterium.

Es hilft eine Zusatztechnologie,…

...die zum Ausgleich die fehlenden Messinformationen liefern kann und die gerade mit Reflexionen sehr gut arbeitet. Dabei wird mit mehrfarbigem Licht und den bekannten Einstrahlwinkeln die genaue Position eines jeden Pixels (l,b,h) vermessen und mit dem anderen Verfahren abgeglichen – erst dann wird korrigiert und eben nicht mehr interpoliert.

Selbst solche Regionen können noch erfasst werden,…

...an die mit winkligen Prüfmethoden (entweder Streifen, Licht oder Kamera) kein Herankommen mehr ist – die Topkamera kann, sofern die zu inspizierende Struktur sichtbar ist, hier immer noch saubere Ergebnisse liefern, und sofern die Sicht frei ist, ist der Einsatz von Seitenkameras, auch im herkömmlichen 2D-Bereich, noch immer die bessere Lösung, als das Ergebnis dem Zufall zu überlassen (Bild 6).