Mess- und Prüftechnik / Testplattformen

Modulare Halbleitervalidierung

20. Juni 2017, 11:14 Uhr | Dipl.-Ing. Wolfgang Rominger, Validation Engineer, NXP Semiconductors Austria, Gratkorn, Österreich
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Hardwareabstraktion

Die unter TestStand aufgerufenen Funktionen werden an eine objektorientierte Implementierung in LabVIEW delegiert.

Das »instrument-oriented Application Programming Interface« abstrahiert Geräteunterschiede durch einen gemeinsamen Satz von Funktionsaufrufen, ähnlich dem IVI-Standard [3], [4].

Bild 5 zeigt eine Referenz-Implementierung zur Abstraktion einer Spannungsquelle: Zur Linken die abstrakte LabVIEW-Basisklasse, auf der Rechten die dargestellte Klassenhierachie.

Die Funktion »selectInstr.vi« instantiiert und speichert die erforderlichen Objekte. Nach Auswahl wird das Objekt zur Gerätekommunikation verwendet. Die Abstraktion
anderer Geräte folgt dem selben Prinzip.

Bild 5: Hardware-Abstraktionsschicht mit LabVIEW-Klassen.
Bild 5: Hardware-Abstraktionsschicht mit LabVIEW-Klassen.
© NXP Semiconductors Austria

Fazit

Das modulare Konzept ist standardisierte flexible PSV-Methode und bewährte sich
innerhalb der NXP-Produktlinie »Secure Car Access«. Das Konzept ist auf mehrere
Entwickler und Anwendungen skalierbar.

Mit Kombination von LabVIEW und Teststand werden Geräte ohne Änderung der
Testsequenzen austauschbar. Die Wiederverwendbartkeit der Module spart Entwicklungszeit ein, kleine Modulgrößen begünstigen die Wartung. LabVIEW und TestStand gewährleisten die Reproduzierbarkeit und Dokumentation. (ct)

 

Literatur

[1] S. Mitra, S. Seshia, and N. Nicolici: Post-Silicon Validation Opportunities, Challenges, and Recent Advances. In: Design Automation Conference. 2010. S. 12 bis 17.

[2] Hardware Abstraction Layers Using LabVIEW Object-Oriented Programming. https://decibel.ni.com/content/docs/DOC-11819

[3] How to Mitigate Hardware Obsolescence in Next-Generation Test Systems. http://www.ni.com/example/31307/en/

[4] IVI Foundation. http://www.ivifoundation.org/
[5] Factory Pattern. https://decibel.ni.com/content/docs/DOC-13724


  1. Modulare Halbleitervalidierung
  2. Plattformkonzept
  3. Hardwareabstraktion

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