Mess- und Prüftechnik / Testplattformen

Modulare Halbleitervalidierung

20. Juni 2017, 11:14 Uhr | Dipl.-Ing. Wolfgang Rominger, Validation Engineer, NXP Semiconductors Austria, Gratkorn, Österreich
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Plattformkonzept

Für die Testplattform wurde ein modulares Konzept mit definierten Schnittstellen, zur Trennung von Automatisierungs-/Messebene und Hardwareschicht gewählt (Bild 2).

Bild 2: Das Konzept der Plattform
Bild 2: Das Konzept der Plattform
© NXP Semiconductors Austria

TestStand dient als Entwicklungsplattform für die »standardisierte Automatisierung« der Messaufgabe. LabVIEW ist Entwickler- und Benutzerschnittstelle. Die Gerätefunktionen- und Modulschicht enthält im Kern eine Hardware-Abstraktionsschicht (HAL), was Zeit bei der Erweiterung und Migration von Testsystemen einspart.

Vor allem Wiederverwendbarkeit und generische Architektur senken den Entwicklungsaufwand automatisierter Messungen. Mit der großen Entwicklerzahl steigt die Stabilität und fällt die Fehleranfälligkeit des Systems.

Plattformebenen

Bild 3 führt das Plattformkonzept weiter aus. Der HAL definiert eine Reihe von Gerätekategorien (Multimeter und andere) mit hersteller- und geräteunabhängigen High-Level-(HL)-Funktionen und -Parametern. Gerätespezifische Funktionen, Referenzen und Treiberkommandos werden von speziellen Geräteklassen implementiert und über Vererbung sowie Polymorphie von einer abstrakten Geräteklasse aufgerufen.

Bild 3: Implementierung des Konzepts.
Bild 3: Implementierung des Konzepts.
© NXP Semiconductors Austria

Die Gerätefunktionen- und Modulschicht verwendet, unabhängig von den gerätespezifischen Befehlen, die HL-Funktionen zur Implementierung der Messaufgabe. So wird die automatisierte Messung von den Messgeräten entkoppelt, Entwickler können ihre Applikation auf bereits vorhandene Funktionen und Messungen aufbauen.

Standardisierte Automatisierung

In der Modularität finden Anwender ein einheitliches Funktionsset und wiederverwendbare Bausteine, zur Reduktion des Entwicklungs- und Wartungsaufwands.

Bild 4 veranschaulicht das Wiederverwendungskonzept: Durch »Drag-and-drop« von Templates sind beispielsweise mit einem Multimeter Strommessungen unter verschiedenen Bedingungen unmittelbar durchführbar.

Generell können Messungen damit verzögerungslos erfolgen. Die Dokumentation der Testsequenz erfolgt innerhalb von TestStand nach WYSIAYG-Prinzip (What You See Is All You Get).

Bild 4: Entwicklung und Abstraktion von Messungen.
Bild 4: Entwicklung und Abstraktion von Messungen.
© NXP Semiconductors Austria

  1. Modulare Halbleitervalidierung
  2. Plattformkonzept
  3. Hardwareabstraktion

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