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Flexible Kontaktspitzen

Automatische EMV-Messungen an ICs

25. November 2020, 12:00 Uhr   |  Nicole Wörner

Automatische EMV-Messungen an ICs
© Langer EMV

HF-Spannungsmesser P750 mit neuer Kontaktspitze und Kontakterkennung

Mit einem flexiblen Federkontakt als Spitze und visuell überprüfbarer Kontakterkennung ausgestattet ist die neue IC-Probe-Generation von Langer EMV-Technik.

Das ermöglicht nicht nur eine deutlich präzisere Kontaktierung mit dem IC-Pin als bislang möglich, sondern auch Messungen von ICs in BGA-Gehäusen sowie einen unkomplizierten und schnellen Austausch der Spitzen.

Die leitungsgebundenen IC-Probes von Langer EMV-Technik sind für normative Bewertungen der Störaussendung (IEC 61967) und Störfestigkeit (IEC 62132; IEC 62215) ausgelegt sowie für entwicklungsbegleitende Untersuchungen. Dazu gehören u.a. die 1/150 Ω leitungsgeführte Aussendung, DPI sowie die EFT-Pulseinkopplung.

Die hohe Messdynamik und Genauigkeit bei der Kontaktierung der neuen IC-Probes erlaubt die automatische Ausmessung komplexer ICs mit dem IC-Testautomat ICT1 – einem Positioniersystem für Langers IC-Messgeräte – um automatisierte EMV-Tests an ICs durchzuführen. Wird die IC-Probe per Hand geführt, lässt sich die Kontakterkennung über einen Taster aktivieren und mittels der integrierten LED visuell überprüfen. 

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