Tektronix
SiC- und GaN-Schaltnetzteil-Analysekit
Tektronix stellt auf der PCIM eine breite Palette von Test- und Messprodukten sowie Software für die Leistungselektronik vor, die vom Komponentendesign bis hin zur Systemproduktion einsetzbar sind.
Highlights auf dem Messestand werden unter anderem das SiC-MOSFET- und GaN-FET-Schaltnetzteil-Analysekit sein. Es enthält eine patentierte Tastkopftechnologie zur genauen Charakterisierung aller kritischen Parameter für die Optimierung von Leistungselektronik-Topologien, die SiC und GaN verwenden.
Ein weiteres Highlight stellt die Software für Doppelpulstests mit breiter Bandlücke dar. Die Doppelpulstest-Anwendung (Opt. WBG-DPT) auf den MSOs der Serien 4/5/5B/6B bietet präzise Messungen für breite Bandlücken, welche die Validierung von Bauteilen und Systemen erleichtern. Kompatibel ist die Anwendung mit allen Tektronix-VPI-Tastköpfen. Bei der Verwendung mit den IsoVU-Tastköpfen von Tektronix lassen sich damit alle versteckten Artefakte von SiC- oder GaN-Bauelementen auf Schaltungsebene aufdecken.
Tektronix, Halle 7, Stand 216
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