VIP-Kongress 2017 | National Instruments
Schneller zur Mess- und Automatisierungs-Applikation
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Time Sensitive Networking und rascher Testaufbau
Das Unternehmen stellte auch zwei neue Ethernet-Chassis mit unterschiedlicher Steckplatzanzahl vor, nämlich cDAQ-9185 und cDAQ-9189, die eine deterministische Synchronisierung über aktuelle Ethernet-Standards unterstützen. NI verbindet damit Time-Sensitive Networking (TSN) mit robuster CompactDAQ-Hardware für verteilte Messungen im Netzwerk. TSN ist eine Weiterentwicklung des IEEE-802.1-Ethernet-Standards, um für verteilte Systeme eine nahtlose Zeitsynchronisierung, geringe Latenz und die Zusammenführung sowohl zeitkritischer als auch allgemeiner Netzwerkdaten zu ermöglichen.
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Testsysteme rascher realisieren
Gezeigt wurden auch die neuen sogenannten ATE Core Configurations (Bild 2), die grundlegende mechanische Infrastrukturen, Stromversorgung und Sicherheitsvorrichtungen für 19-Zoll-Racks umfassen.
Damit lassen sich automatisierte Prüfstände für unterschiedliche Bereiche schneller entwickeln und einsetzen. Traditionellen, proprietären ATE-Systemen dürfte damit ein großer Marktanteil genommen sein.
Technologisch interessant waren auch das von der Firma Berghof-Testing gezeigte PIA-System (Powertrain Injector Application) zur Analyse an Einspritzventilen und pumpen, die auf der DIAdem-Software basierende Testdaten-Auswertesoftware X-Frame von measX und das um den Radar-Test erweiterte Testsystemkonzept von Noffz. An diesen und vielen anderen Exponaten wurde deutlich, dass nicht zuletzt die Automobilelektronik im Zeichen ihres rasanten Umbaus hin zu völlig neuen Systemkonzepten (nicht nur in Bezug auf Elektromobilität und automatisiertes Fahren) zu ganz wesentlichen Teilen auf präzise, schnelle, tief analysierende und kostensparende Systemkomponenten im Mess-, Regelungs- und Prüfstandsektor angewiesen ist.
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