Eines der Highlights auf dem Messestand von Omron (Halle A2, Stand 422, Vertrieb: ATEcare) ist das 3D-AOI-System VT-S1080. Hierzu wurde eine komplett neue AOI-Lichteinheit entwickelt und patentiert (MDMC Light). Die bewährte DLP-Projektion wurde verdoppelt und nutzt nun auch die ebenfalls patentierte Multiple-Shift-Phase-Technologie (MPS), um schattenfrei, aber auch ohne Interpolation sauberstes Bildmaterial zu generieren. 5-MPixel-Seitenkameras ergänzen die neue 12-MPixel-Topkamera.
Ebenfalls bei Omron zu sehen ist das 3D-SPI-System VP9000. Es wartet nicht nur mit einer neuen Systemhardware auf, sondern auch die Software hat viele Neuheiten zu bieten. Komplett neu und patentiert ist beispielsweise die Möglichkeit, die Auflösung des Systems jeweils bei Bedarf und FOV zu dritteln, sodass auch die kleinsten Strukturen mit der gleichen Maschine vermessen werden, bei Bedarf aber immer der höchste Durchsatz gewährleistet ist.
Mikro-/Nanofokus-Röntgen- und CT
Mikro- und Nanofokus-Röntgen- sowie CT-Inspektionssysteme für die Elektronik- und Batterieindustrie stehen auf dem Messeprogramm von Waygate (Halle A2, Stand 415) . Ein Highlight ist die nächste Generation des industriellen 2D-Röntgen- und 3D-CT-Systems Phoenix V|tome|x S. Neben der bewährten optionalen Doppelröhren-Konfiguration verfügt es jetzt auch über einen Dynamic-41|200p+-Detektor. Dieser erzielt eine noch höhere Auflösung und Bildqualität bei gleichzeitig deutlich schnelleren Scanzeiten. Die neue DXR-S100-Pro-Option bietet sogar eine Pixelgröße von 100 µm zur Erkennung kleinster Fehler. Das geräumige Kabinendesign erleichtert den Probenwechsel. Dank Dual|tube-Technologie kann der V|tome|x S Neo innerhalb weniger Minuten automatisch zwischen einer 180-kV/20-W-Hochleistungs-Nanofokus-Röntgenröhre und einer 240-kV/320-W-Mikrofokus-Röntgenröhre wechseln. Damit eignet sich das System sowohl für die klassische Inspektion in der Elektronik- und Automobilindustrie als auch für Forschung und Entwicklung: von extrem hochauflösenden nanoCT-Scans für schwach absorbierende Materialien mit einer Detailerkennbarkeit bis zu 200 nm bis hin zu 3D-MikroCT-Analysen stark absorbierender Objekte mit einem Durchmesser von bis zu 400 mm. Das CT-System ist standardmäßig mit einer zusätzlichen Kippachse ausgestattet, die eine flexible 2D-Röntgenprüfung ermöglicht.
Trendthema LED-Test
Der schnelle LED-Test mit Laborgenauigkeiten steht im Mittelpunkt des productronica-Auftritts von Premosys (Halle A1, Stand 160). Das Unternehmen zeigt unter anderem Vertreter seiner eFLAT-Systeme, die für den schnellen, parallelen und automatischen Test sowohl der Farbe als auch der Intensität von LEDs, Displays, Armaturen-Beleuchtungen und anderen Selbstleuchtern konzipiert sind. Zu den Exponaten zählt unter anderem der LED-Analyzer eFLAT-II, der erste seiner Art, der in der Lage ist, gleichzeitig die LED-Farbe zu messen und deren Einschaltzeit millisekundengenau auszugeben. Somit ist beispielweise die Qualitätsprüfung sogenannter dynamischer Blinker automatisiert im Fertigungsprozess sehr schnell durchzuführen. Das kompakte Multikanal-LED-Testsystem eFLAT-III komplettiert in diesem Jahr Premosys‘ Portfolio der LED-Analyzer. Hiermit ist es möglich, mehrere Module über Daisy Chain auf bis zu 200 Kanäle zu erweitern. Weiterhin können LEDs vom sichtbaren Bereich bis in den Nahinfrarotbereich automatisiert vermessen werden. Verdrehsichere Glaslichtwellenleiter garantieren zusätzlich, dass die Lichtleiter selbst nach dem Lösen vom Messkanal immer die gleiche Orientierung aufweisen und somit eine neue Kalibrierung und Konfiguration des Systems entfällt.
Das Highlight am Premosys-Messestand ist aber das für die spektrale Auswertung von LEDs in Produktionsumgebungen ausgelegte Inline-Spektrometer eFLAT-S. Das als Ein- oder Zweikanalvariante erhältliche System liefert auf Basis seiner speziellen Lichteinkopplung selbst bei schwach leuchtenden LEDs stabile Ergebnisse bei gleichzeitig geringen Messzeiten.