Validieren und Kalibrieren

Interne Zustände von Embedded-Systemen messen

29. Juli 2024, 6:00 Uhr | Von Joshua Summa
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Literatur

[1] Bogatin, E.: Signal and Power Integrity. Pearson, 3. Auflage, 2018, S. 38, ISBN: 978-0134513416

[2] Wolff, J.: How Is Technology Changing the World, and How Should the World Change Technology? Global Perspectives. Vol. 2, Issue 1, 2021

[3] Stecklein, J.; et al.: Error Cost Escalation Through the Project Life Cycle. Nasa, 19. Juni 2004

[4] Schmitt, R. und Pfeifer, T.: Qualitätsmanagement: Strategien – Methoden – Techniken. Carl Hanser Verlag, 2015, S. 3, ISBN: 978-3446434325

[5] Berteletti, E.; et al.: It’s coming home: The return of agile hardware product development. McKinsey and Company, 6. Oktober 2023

[6] Scholl, C.; et al.: An Integrated Framework for Data Quality Fusion in Embedded Sensor Systems. Sensors 2023, H. 8, Nr. 3798

[7] es:prot – Überblick, Auswahlkriterien, Vorüberlegungen. es:saar, Website

[8] Software Oszilloskop für Eingebettete Laufzeitvariablen. es:saar, Website

[9] The Future of Digital Experiences. Qt Group, Website

[10] Grasso, E.; et al.: Analysis and Exploitation of the Star-Point Voltage of Synchronous Machines for Sensorless Operation. Energies 2019, H. 12, Nr. 4729

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  1. Interne Zustände von Embedded-Systemen messen
  2. Das Software-Oszilloskop es:scope
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