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Mess- und Automatisierungstechnik

Wie funktioniert das industrielle Internet of Things?

29. Oktober 2014, 9:35 Uhr | Wolfgang Hascher

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Fortsetzung des Artikels von Teil 3

Produktentwicklungen für das Internet of Things

Auf der Kongress-Veranstaltung wurden aber auch einige neue Geräte- und Systemtechnik-Weiterentwicklungen vorgestellt. Neben der neuen Version von LabVIEW wurde mit NI InsightCM Enterprise (Bild 2) eine neue Software-Lösung zur Online-Zustandsüberwachung von Maschinen und Anlagen demonstriert. Hardwareseitig präsentierte NI den neuen Controller NI cRIO-9033 und das NI System on Module (SOM) für den Embedded-Bereich (Bild 3).

Der PXI-Standard erweist sich auch weiterhin als Basis für sehr viele Anwendungen aus der Mess-, Steuerung-, Regelungs-und Automatisierungstechnik. Welche Bedeutung diesem Systembus beizumessen ist, zeigen die Steigerungsraten in diesem Markt (Bild 4). Im nächsten Jahr dürfte das PXI-Marktvolumen weltweit auf rund 640 Millionen US-Dollar anwachsen (heuer rund 560 Millionen US-Dollar).

Für die PXI-Plattform wurden von National Instruments vier neue Messgerätetypen für automatisierte Testanwendungen gezeigt, darunter der neue VSA NI PXIe-5668R für den RF-Bereich sowie das Oszilloskop NI PXIe-5171R mit acht Kanälen (Bild 5). All diese Gerätetypen vereinen die Vorteile softwaredesignter Messtechnik auf Basis der FPGA-Technologie. Sie sind für das automatisierte Testen und Forschen im Bereich Wireless- und mobile Geräte, in der Halbleiter- sowie die Automobilindustrie und in der Luft- und Raumfahrt konzipiert. Mit dem NI Semiconductor Test Systems (STS) zeigte NI schließlich ein PXI-basiertes System, welches die Integration von PXI-Modulen (auch unterschiedlicher Hersteller) in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglicht und deshalb die Testkosten für HF- und Mixed-Signal-Baugruppen senkt. Der Vorteil dabei: Die offene, modulare Architektur eines derartigen Testsystems bietet dem Anwender einen Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund deren geschlossener Architektur nicht bekommen.

Bei der Veranstaltung wurde auch ein Sonderpreis für das zum Kongress eingereichte „Best Paper“ überreicht: diese Auszeichnung ging an Dr.-Ing. Dražen Veselovac (Bild 6) stellvertretend für die Arbeitsgruppe des AWK Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen für den Beitrag „Sensoren für die digitale Produktion im Kontext von Industrie 4.0“.