PC-Messtechnik

Ritu Favre, Emerson: »Test entwickelt sich von einer reinen Validierungsinstanz hin zu einem Frühwarnsystem, das Engineering-Entscheidungen aktiv begleitet.«
© Emerson

Interview mit Ritu Favre, Emerson NI

»Testdaten werden zur neuen IP«

KI verändert die Rolle des Testens: von der späten Qualitätskontrolle hin zum integralen Bestandteil der Entwicklung. Warum Testdaten zur strategischen Ressource werden, wie KI heute schon im Testlabor unterstützt und weshalb der Testingenieur wichtiger denn je ist, erklärt Ritu Favre, Emerson.

Markt&Technik
Joe Woodford, Pickering, neben Messgeräten von Pickering Interfaces
© Pickering Interfaces

Rück-/Ausblick von Pickering Interfaces

Schalt- und Simulationstechnik im volatilen Marktumfeld

Das Jahr 2025 war für die Mess- und Prüftechnik-Branche von wirtschaftlicher...

Markt&Technik
Themenwoche Mess- & Prüftechnik
© Siglent

Advertorial: Siglent

Präzise Signale – an jedem Arbeitsplatz, für jeden Entwickler

Moderne Komponenten und Systeme reagieren sensibel auf Verzerrungen, Jitter oder...

Markt&Technik
Die Geschäftsführung und der Bürgermeister der Stadt Ahrensburg (rechts) mauern die Zeitkapsel ein (gefüllt mit Fotos, Visitenkarten, Glückwünschen, Dokumenten und einem Produkt).
© Spectrum Instrumentation

Neubau in Ahrensburg

Spectrum Instrumentation legt Grundstein für neues Firmengebäude

Spectrum Instrumentation hat den Grundstein für ein neues Firmengebäude im...

Markt&Technik
Anwendering vor einem Monitor, auf dem SystemLink von NI läuft
© Emerson / NI

Testmanagement für Labore

NI SystemLink jetzt auch für kleine Teams

Emerson hat eine neue Edition der Softwareplattform NI SystemLink veröffentlicht, die...

Markt&Technik
Das Bild zeigt das Cover des PXIMate-Handbuchs von Pickering Interfaces
© Pickering Interfaces

Leitfaden für modulare Messtechnik

Pickering: neues Handbuch für PXI-Testsysteme

Pickering Interfaces hat die sechste Auflage seines Referenzhandbuchs „PXIMate: A...

Markt&Technik
Bild 3: Gesamtansicht des USB-6453
© NI

Modulare USB-Datenerfassungssysteme

Effizienter Test elektromechanischer Systeme

Der Test elektromechanischer Systeme ist oft komplex und fehleranfällig. Eine einfache...

Elektronik
Das Testsystem PTK 4.0 mit Analog-Mixed-Signal-Fähigkeit ermöglicht ohne zusätzliches Equipment,Schaltkreise zu testen, zu messen und sogar zu charakterisieren
© IMMS

Test analoger und digitaler Strukturen

Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich

Gerade einmal Milchtüten-groß ist das neue Testsystem des IMMS für den Test und die...

Elektronik
Die zunehmende Komplexität von Millimeterwellen-Radarsystemen für Fahrzeuge macht die gängige FMCW-Methode aufgrund der schnellen Änderungen der Chirp-Frequenz, der großen Bandbreite und der hohen Frequenzen zu einer Herausforderung in der Testphase
© Tetiana|stock.adobe.com

Effizienz im Millimeterwellen-Radartest

Ultrabreitband-Messgerät für ADAS und AD

Komplexe Millimeterwellen-Radarsystemen für Fahrzeuge machen die gängige FMCW-Methode...

Elektronik
DDS-Modus für AWGs generiert Mehrtonsignal mit bis zu 20 Sinuswellen
© Spectrum Instrumentation

Erzeugt bis zu 20 Sinuswellen

Multi-Tone-DDS-Option für ultraschnelle AWGs

Spectrum Instrumentation stellt eine neue Firmware-Option für alle...

Markt&Technik