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Problembehandlung in embedded-Systemen

Tipps für die Jitter-Charakterisierung

13. Juli 2018, 14:15 Uhr | Nicole Wörner

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Fortsetzung des Artikels von Teil 4

Jitter-Messungen bei getakteten Daten

Das letzte Beispiel der Jitter-Analyse erfolgt an einer synchronen Logikschaltung. Im Gegensatz zu den vorherigen Beispielen hat diese Schaltung ein explizites Taktsignal, so dass die Jitter-Messungen auf dem türkisen Datensignal auf Kanal 2 relativ zum gelben Taktsignal auf Kanal 1, wie links unten im Bild 10, erfolgen.

Die Taktrate liegt bei nur 1,25 MHz, und die Leiterbahnen auf der Baugruppe sind kurz, so dass die Signale sauber sind, wie der geringe Random-Jitter und die breite Augenöffnung zeigen. Weil diese Schaltung ein separates Taktsignal nutzt, ist der Jitter normalerweise nicht datenabhängig.

In diesem Fall scheint der Jitter von Tastverhältnis-Verzerrungen dominiert zu sein. Die weitere Analyse der Schaltung zeigt, dass der Takt für diese Schaltung aus dem im Bild 5 gezeigten Takt abgeleitet wurde. Unabhängig davon wird ein bedeutender Teil des Gesamt-Jitters dieser Schaltung durch die Tastverhältnis-Verzerrungen des Taktsignals verursacht.

Zusammenfassung

Als Herzschlag von eingebetteten Systemen sind Takte entscheidend für die Aufrechterhaltung von Timing-Referenzen und die Synchronisation über Komponenten, Subsysteme und komplette Systeme. Wie diese Beispiele von Messungen an nichtmodulierten Takten, Spread-Spektrum-Takten, seriellen Daten mit eingebettetem Takt und getakteten Daten gezeigt haben, bieten moderne Oszilloskope vielfältige Messmöglichkeiten, welche die Charakterisierung und Verifizierung von Jitter in eingebetteten Systemen deutlich vereinfachen.