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Baugruppen-/Leiterplattentest

© T. Reiprich (Univ. Bonn), M. Ramos-Ceja (MPE), F. Pacaud (Univ. Bonn), D. Eckert (Univ. Geneva), J. Sanders (MPE), N. Ota (Univ. Bonn), E. Bulbul (MPE), V. Ghirardini (MPE), MPE/IKI

Röntgenteleskop liefert erste Bilder

Dem Urknall auf der Spur

Das Röntgenteleskop »eRosita« soll Milliarden Lichtjahre entfernte Galaxien in bisher unerreichter Auflösung erforschen. Im Juli ist das Teleskop gestartet - jetzt gibt es erste Nachrichten aus dem All

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© Viscom

Optische Baugruppeninspektion

3D-AOI optimal nutzen

2D, 2,5D oder 3D? In der Diskussion um Technologien für die automatische optische…

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© Nicole Hiller/ KIT

Karlsruher Instituts für Technologie-KIT

Der Teilchenbeschleuniger von morgen

Nach einer Fördermittelzusage des Bundesforschungsministeriums wird an der Accelerator…

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© Engmatec

Prüf- und Automatisierungstechnik

Schauenburg übernimmt Engmatec-Mehrheit

25 Jahre nach Unternehmensgründung haben die Engmatec-Gründer ihre Nachfolge geregelt und…

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© Vision Engineering

Vision Engineering

3D-Mikroskopie mit »Wow-Effekt«

Eine neue digitale, stereoskopische 3D-Betrachtungstechnologie von Vision Engineering…

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© Viscom

Kompetenzzentrum für Röntgenröhren

Viscom baut Wachstumssegment aus

Viscom hat in die Entwicklung und Fertigung von Mikrofokus-Röntgenröhren investiert und…

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© MR Electronics

Manuelle Prüftechnik

Sichere Leiterplatten-Kontaktierung

Für Prototypen und Kleinserien lohnt sich oft ein teurer Prüfadapter nicht. MR Electronics…

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© Advantest

Advantest

Testsystem für 5G-NR-Bauteile

Mit der neuen V93000 Multi-Site-mmWave-ATE-Testlösung adressiert Advantest den…

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© Paul Scherrer Institut/Markus Fischer

Fourier-Ptychografie

Virtuelle Linse verbessert Röntgenmikroskopie

Röntgenstrahlen ermöglichen einzigartige Einblicke in das Innere von Materialien, Gewebe…

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© Seica

Seica

Automatisierte Leiterplatten-Montagelinie

Auf dem Seica-Stand auf der SMTconnect wird eine komplette automatisierte…

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