Göpel Electronic auf der SMT

Schnell und automatisch testen

3. Mai 2016, 10:07 Uhr | Matthias Heise
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Automatische Testprogramme für Mixed Signal Designs generieren

Göpel Test-Gernerator
Der Mixed Signal Test-Generator von Göpel Electronic automatisiert die Erstellung von Testsequenzen.
© Göpel Electronic

Mit einem neuen Software-Tool ermöglicht GÖPEL electronic automatische Generierung von Testprogrammen von analog/digitalen Designs. Der Mixed Signal Test-Generator automatisiert bisher manuell erzeugte Testsequenzen, der gesamte Konditionierungs- und Parametrisierungsaufwand wird drastisch reduziert. Dadurch wird die Projekterstellung sicherer, effektiver und auf flexibler.  

Der weltweit erste Test-Generator seiner Art ist integriert in der Boundary Scan Softwareplattform System Cascon. Er wurde insbesondere zur Unterstützung des neuen CION-LX Chips, einem Mixed Signal JTAG Tester on Chip, optimiert. Damit bietet der Test-Generator einen Funktionsumfang angefangen von der Frequenzmessung, Erzeugung oder Aufnahme analoger Einzelwerte bis hin zur dynamischen Ausgabe und Digitalisierung von analogen Waveforms. Prinzipiell kann eine beliebige Anzahl von identischen oder unterschiedlichen Instrumenten gleichzeitig aktiviert und in Interaktion zu Boundary Scan Testvektoren gesteuert werden. Zur Konditionierung des gesamten Testablaufs verfügt der Test-Generator über leistungsstarke Mess-, Analyse- und Ausgabefunktionen. Diese garantieren eine hohe Effektivität in der Umsetzung von Mixed Signal Applikationen. Für hohe Flexibilität sorgt die Ausgabe des Testprogrammes als Source-Code CASLAN, einer speziellen JTAG/Boundary Scan Mixed Signal Hochsprache. Dadurch ist der Test vollständig debugfähig und adaptierbar.  Die Mixed Signal Operationen lassen sich einfach mit anderen Boundary Scan Prozeduren, Flash Programmierung, Processor Emulation Tests oder Anwendungen von FPGA embedded instruments kombinieren.

Hardwareseitig unterstützt der Mixed Signal Test-Generator sowohl die JTAG/Boundary Scan Plattform SCANFLEX, als auch die neuen CION-LX Module/FXT96 und FXT192. Die Generierung der Testprogramme ist auf allen SYSTEM CASCON Entwicklungsstationen möglich.

Boundary Scan in Flying Probe Tester

Göpel Seica
Die Boundary Scan Option von Göpel Electronic kann nun auch in die Flying Probe Tester von Seica integriert werden.
© Göpel Electronic

Die Flying Probe Tester (FPT) der Pilot 4D Linie von Seica sind ab sofort mit einer Boundary Scan Option von Göpel Electronic verfügbar. Beide Prüfverfahren bieten zusammen eine kosten- und zeiteffiziente Plattform zum Test elektrischer Baugruppen in der Produktion.

Durch die Integration der Boundary Scan Software „System Cascon“ in den Pilot 4D FPT profitiert der Kunde von den Vorteilen und Fähigkeiten beider Prüfverfahren. Gegenüber den Einzelverfahren kann mithilfe des interaktiven Tests die gesamte Testabdeckung deutlich erhöht werden. Gleichzeitig können die Fahrwege der Probes im reinen Flying-Probe-Test reduziert werden, indem Testschritte, die bereits durch Boundary Scan abgedeckt werden, übersprungen bzw. entfernt werden. Die komplette Lösung wurde auf ein komfortables Zusammenspiel beider Systeme optimiert. So wurde bei der Auswahl der Hardwarekomponenten auf kompatible und empfohlene Schnittstellen geachtet.

Das notwendige Hardware-Paket besteht aus einem USB/LAN Boundary Scan Controller, einem TAP-Transceiver, sowie einem I/O-Modul, welches mithilfe eines vorkonfigurierten Steckers mit den verfahrbaren Probes verbunden wird. Dieser Aufbau kann problemlos in bestehende Systeme integriert werden. Durch die Kombination der Software beider Systeme können interaktive Tests erstellt werden, die dem Anwender noch höhere Prüftiefe und detailliertere Diagnose bieten.


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