Testlösungen für Smart Devices
Große Herausforderungen
Fortsetzung des Artikels von Teil 2
Unsicherheiten im Markt und deren Auswirkung auf ATE-Systeme
Wenn wir den Marktforschungen Glauben schenken können, befinden wir uns zur Zeit am Anfang eines großen Hype und es wird noch eine Vielzahl unterschiedlicher Smart Devices auf den Markt kommen. Diese unvorhersehbare Entwicklung erzeugt Unsicherheit betreffend der Konfigurationen künftiger Testsysteme. Der Ansatz einer universellen Pin-Architektur wirkt den Schwierigkeiten, die eine Konfigurationsvielfalt mit sich bringt, entgegen, da künftige Testanforderungen mit der gleichen Instrumentierung weitgehend abgedeckt werden können.
Es zeigt sich, dass die Testkonzepte einzelner Grundkomponenten der unterschiedlichen Generationen meist sehr ähnlich sind. Was generell stark variiert, ist die Anzahl der integrierten Funktionsblöcke und deren Kombination hinter den einzelnen Bausteinpins. Universelle Kanäle ermöglichen schlanke und damit kosteneffiziente Konfigurationen, die sich zudem leichter standardisieren lassen, da nur sehr wenige unterschiedliche Kartentypen beteiligt sind. Obwohl die Testanforderungen von Smart Devices sehr vielfältig sind, lässt sich eine optimale Auslastung der installierten Systembasis erzielen, was weiterhin die Kosten senkt. Dies ist speziell für Outsourcing-Partner (OSATs) ein wichtiger Optimierungsfaktor, da dieselben Systeme Bauteile mehrerer Kunden laden.
Der Autor:
| Toni Dirscherl |
|---|
| ist Produktmanager bei Advantest und seit 20 Jahren in Entwicklung, Applikation und Marketing von ATE-Systemen im Analog-, Power- und Mixed-Signalbereich tätig. Er studierte Elektrotechnik an der Fachhochschule München und war einige Jahre in San José, Kalifornien, als Testingenieur tätig. Toni Dirscherl hält häufig Vorträge auf Konferenzen und ist Autor mehrerer Fachartikel. |
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64 Kanäle für Smart Devices
Advantest bietet mit dem neuen AVI64 Universal Analog Pin für die ATE-Plattform V93000 eine Lösung für die im Artikel beschriebenen Probleme beim Test von Smart Devices an. Das Instrument stellt eine Vielzahl von Analog-, Digital- und Power-Funktionen an jedem der 64 integrierten Kanäle zur Verfügung:
- Präzisions-U/I-Quelle: Forciergenauigkeit <100 µV absolut, <5 µV relativ, Messgenauigkeit <5 nA.
- Weiter Spannungsbereich von –40 V bis +80 V für Tests an Halbleiter-Prozessgrenzen.
- –40 V bis +80 V Hochspannungs-Digital- I/O-Treiber (bis 10 Mbit/s) und Empfänger (bis 100 Mbit/s) zum Test von Sensorschnittstellen und HV-Automotive-/Industriebussen (CAN/LIN/PSI5/…).
- Smart Features für nahtloses Umschalten von U/I- auf Digitalbetrieb sowie glitchfreies Anschalten an unvorhersehbare DUT-Ausgangsspannungen.
- Digitale Regelung zur Anpassung an komplexe Lasten und Optimierung von Einschwingzeiten.
- Floatende 4‑A-Hochstromquelle für Leistungstests an Endstufen.
- Floatendes Differenzvoltmeter für Präzisionsmessungen <60 µV
- Hochspannungs-Zeitmesseinheit für –40 V bis +80 V mit Doppelkomparator zur Messung von Schaltzeiten an analogen und digitalen Signalen.
- Domain Sync zur zeitlichen Synchronisierung von Analog-, Digital-, Power- und Mixed-Signal-Funktionen.
- Pattern-kontrollierter Ablauf von Messungen für den Einsatz von effizienten Testmethoden ohne Host-CPU-Interaktion.
- Analoger 20‑bit-Signalgenerator und Sampler für eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten im Bereich von ADC- und DAC-Tests.
- Große Herausforderungen
- Anforderungsspektrum der Bauteiltests
- Unsicherheiten im Markt und deren Auswirkung auf ATE-Systeme
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