Schnell schaltende Bauelemente

Niederinduktiver Aufbau steigert Wirkungsgrad

17. November 2014, 8:50 Uhr | Ralf Higgelke
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Folgerungen für den Einsatz

Bild 4b: Oszillogramme für VDS und ID beim Einschaltvorgangs bei steigendem Lcouple und festem LG für ID= 60 A und VDC = 450 V; Einfügung: Ipeak in Abhängigkeit von Lcouple
Bild 4b: Oszillogramme für VDS und ID beim Einschaltvorgangs bei steigendem Lcouple und festem LG für ID= 60 A und VDC = 450 V; Einfügung: Ipeak in Abhängigkeit von Lcouple
© Infineon Technologies
Bild 4a: Oszillogramme für VDS und ID beim Einschaltvorgangs bei festem Lcouple und steigendem LG
Bild 4a: Oszillogramme für VDS und ID beim Einschaltvorgangs bei festem Lcouple und steigendem LG
© Infineon Technologies

Um nun den Einfluss von LG und Lcouple gezielt zu separieren, sind in den Bildern 4a und 4b die Schaltkurven für konstantes, minimales Lcouple mit steigendem LG (Bild 4a) und konstantes, maximales LG mit steigendem Lcouple (Bild 4b) dargestellt. Im Teilbild a wird LG von 26 nH bis 58 nH variiert, wodurch sich EON von 0,4 mJ auf 0,39 mJ verringert. Damit einhergehend steigt die Rückstromspitze Ipeak leicht von 113 A auf 116 A. Im Teilbild b wird Lcouple von 3,5 nH bis 14 nH erhöht. Dadurch verringern sich die Oszillationen sowohl bei VDS als auch ID, was direkt mit einer reduzierten Schaltgeschwindigkeit korreliert. Hieraus folgt wiederum, dass die Einschaltverluste von 0,39 mJ auf 176 mJ steigen, Ipeak jedoch von 116 A auf 70 A sinkt. Bemerkenswert hierbei ist die erneute Spannungsaufnahme des Bauelements direkt nach dem Einschalten, die insbesondere für großes Lcouple dominant wird.

Folgerungen für den Einsatz

Die abrupte Zunahme der Einschaltverluste lässt sich wie folgt erklären: Das dID/dt im Lastkreis führt während des Schaltvorgangs zu einem Spannungsabfall über Lcouple, wodurch VGS sinkt. Zusätzlich findet eine Rückkopplung des dVDS/dt aus dem Lastkreis über CDG auf das Gate statt. Beide Vorgänge verringern VGS und führen, sobald VGS unter die Schwellspannung fällt, dazu, dass das Bauteil während des Einschaltvorgangs abrupt abschaltet. Dieses abrupte Abschalten ist durch ein kurzes Ansteigen von VDS während des Einschaltvorgangs gekennzeichnet (mit rotem Kreis markierte Stellen in Bild 4b). Hierdurch reduziert sich die Schaltgeschwindigkeit, was gleichzeitig zu einem geringeren Ipeak (Bild 4b) führt und die Schaltverluste signifikant ansteigen lässt.

Bei schnellschaltenden Bauelementen ist der Einfluss von parasitären Induktivitäten auf das Schaltverhalten zu berücksichtigen. Denn diese sind durch Rückkopplung aus dem Last- in den Gate-Kreis im Bauteil vorgegeben. Steilere Schaltflanken vergrößern den Einfluss der Rückkopplung, wobei hohe Streuinduktivitäten zusätzlich dazu beitragen. Somit ergibt sich die direkte Forderung, schnellschaltende Bauelemente nur in niederinduktiven Aufbauten zu betreiben. Hierdurch verringert sich der durch Streuinduktivitäten bedingte Anteil an der Rückkopplung und die Schaltverluste steigen nicht an. Nur wenige auf dem Markt befindliche Module ermöglichen durch einen niederinduktiven Modulaufbau, diese möglichst nah an der Applikation zu verbauen. Die Produktlinien »Easy 1B« oder »Easy 2B« von Infineon erfüllen diese Anforderung und weisen darüber hinaus eine recht hohe Flexibilität bezüglich der Pin-Position, deren Belegung und der implementierten Schaltung auf.

Vorteile niedriger parasitärer Induktivitäten

Unabhängig von dieser Forderung kann das gezielte Implementieren von kleinen Induktivitäten zu Vorteilen bei der Parallelschaltung von mehreren Bauelementen oder bei der Beherrschung von extremen Operationsbedingungen führen, zum Beispiel bei Kurzschluss. Hier ist darauf zu achten, dass die integrierten Induktivitäten nicht dazu beitragen, dass die Schaltverluste massiv steigen. Insbesondere bei der Verwendung von diskreten Produkten liegt hier der Fokus auf einem geeigneten und optimierten PCB-Layout, da dieses maßgeblich LG, LS und Lcouple definiert.

Bei der Anwendung von schnellschaltenden Bauelementen ist zudem wichtig, dass nicht nur parasitäre Induktivitäten, sondern auch externe Parameter wie beispielweise der Gate-Widerstand die Schaltverluste bestimmen. Hierbei hat RG eine vergleichbare Wirkung wie LG und kann in Kombination mit Lcouple dazu führen, dass die Schaltverluste abrupt und stark ansteigen. Die Schaltgeschwindigkeit über den Gate-Widerstand zu steuern ist somit nur eingeschränkt möglich und zielführend. Für Anwendungen, die eine derartige Reduzierung der Schaltgeschwindigkeiten benötigen, sind somit alternative Ansätze wie beispielsweise eine optimierte Gate-Treiberansteuerung vorzuziehen.


  1. Niederinduktiver Aufbau steigert Wirkungsgrad
  2. Zahlenbeispiel Leistungs-MOSFET
  3. Folgerungen für den Einsatz

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