Mikrocontroller-Architekturkonzept
Mehr Leistung, weniger CO2
Fortsetzung des Artikels von Teil 5
Messen, Kalibrieren, Debuggen
Die aufgeführten DAP-Funktionen optimieren das Infineon-Tool-Konzept der Audo-Max-Familie. In Bild 5 links ist dieses im Vergleich zu Wettbewerbslösungen dargestellt. Das Infineon-Konzept bietet Hardware-Vorteile (nur zwei DAP-Leitungen gegenüber mindestens 14 Pins bei anderen Konzepten) und ist zukunftssicher bezüglich kommender Multicore-Architekturen. Zum Beispiel ist im Kalibration-Overlay-Fall der Datenzugriff auf das interne EMEM gleich schnell wie auf den ebenfalls internen Flash-Speicher. Auch die Menge der Trace-Daten, die über die Chip-Grenze gehen müssen, wird auf ein sinnvolles Maß reduziert. Dazu stehen im MCDS (Multicore Debug Solution) viele Funktionen in Form von Trigger und State-Machines oder Zählern zur Verfügung, um die relevanten Trace-Daten herauszufiltern.
Emulation Devices (ED; Mikrocontroller mit zusätzlichem Speichermodul EMEM und MCDS-Funktionen) und Production Devices (PD; Mi-
krocontroller für den Serieneinsatz) sind pinkompatibel; mit nur einem Leiterplatten-Layout lassen sich sowohl die Kalibrierungs- als auch die Serienanforderungen erfüllen. Für alle Mikrocontroller der Audo-Max-Familie gibt es Emulation Devices mit erweitertem SRAM, in Bild 5 ist beispielhaft TC1782ED gezeigt, der über 512 Kbyte SRAM verfügt.
Für trace-basierte Messungen wurde die Anzahl der Daten-Adress-Vergleicher zur Auswahl der Messdaten verdoppelt, so dass im Zusammenspiel mit dem verbesserten DAP-Blocklesen die Messleistung erhöht wurde. Neben dem klassischen Debugging (Start/Stop) unterstützt das MCDS in der neuen Audo-Max-Familie auch hochparalleles Tracing. Damit sind zyklengenaue, parallele Traces von Bussen, CPU und DMA mit bis zu 40 Gbit/s möglich.
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