Startseite > Messen + Testen > Testsysteme > Ein Prüfadapter für alle Fälle

Yamaichi Electronics

Ein Prüfadapter für alle Fälle

7. November 2019, 11:50 Uhr | Nicole Wörner

Funktionstest, In-Circuit-Test, Programmierung - dank des modularen Konzepts ist der Prüfadapter Y-ETI von Yamaichi Electronics für alle Testgegebenheiten gerüstet.

Die Kontaktierung hochkomplexer, winzig kleiner Baugruppen wird zunehmend zur Herausforderung. Hier setzt Yamaichi mit dem Prüfadapter Y-ETI an. Dank des modularen Designs ermöglicht er das Kontaktieren von Standard-Applikationen mit geringer Signalgüte bis hin zu High-Performance-embedded-Lösungen.

▶ Diesen Artikel anhören

Von: Stefan Brenner, Business Development Manager Interface Solutions von Yamaichi Electronics Deutschland

Miniaturisierung, Digitalisierung, IoT und Künstliche Intelligenz (KI) – das sind die Trendsetter unserer Gegenwart. Elektrische Baugruppen, bei denen in der Vergangenheit die Größe keine unmittelbare Rolle gespielt hat, rücken mehr und mehr in den Vordergrund. Immer kleinere embedded-Lösungen mit steigender Packungsdichte, wie etwa für Wearables in der Medizintechnik oder für die Automotive-Industrie, in der Autos bald elektrisch und voll vernetzt durch eine Vielzahl elektronischer Module gesteuert werden sollen, müssen eine hundertprozentig sichere Funktionalität aufweisen.

Nicht immer ist eine solche Hardware ohne externe Kontaktierung komplett prüfbar. In diesem Fall müssen die Kontakteinheiten hochpräzise und auf sehr engem Raum platziert werden. Das kann entweder durch die dafür vorgesehenen Testpads (an bzw. auf aktiven oder passiven Komponenten) oder an, auf und sogar in On-board-Steckverbindern geschehen.

Modulares Design für höchste Flexibilität

Hier setzt Yamaichi mit seinem neuen Prüfadapter Y-ETI an. Der Y-ETI eröffnet dem Anwender viele neue Möglichkeiten zur Kontaktierung und Prüfung elektrischer Baugruppen, unter anderem die Funktionsprüfung oder Programmierung. Von Anwendungen mit Standardbaugruppen, wie sie unter anderem im Euroformat zu finden sind, bis hin zu hochintegrierten embedded-Modulen, die jede Form annehmen können – dank der Modularität und Flexibilität des Designs ist alles mit nur einem Prüfadapter realisierbar.

Die erste Variante dieses robusten und leicht zu bedienenden Prüfadapters hat die Grundfläche von ca. 566 x 463 mm mit einer Höhe von ca. 197 mm. Hierbei ist die zur Verfügung stehende Arbeitsfläche, also die maximale Größe eines DUT auf 270 x 270 mm begrenzt.

Insgesamt stehen bis zu 1020 Signalverbindungen zur Verfügung, die je nach Bedarf und Anwendung auch in 340 differentiale High-speed-Signale bis zu 12,5 Gbps oder in 510 single-ended Signale aufgeteilt werden können. Beide Varianten bringen die dafür nötige Impedanzanpassung mit, um das Signal verlustarm von A nach B zu führen.

Ob eine einzige Baugruppe eingelegt wird, mehrere Kleine parallel oder sogar ein Mehrfachnutzen – solange die maximal zu testende Fläche eingehalten wird, ist eine zuverlässige Kontaktierung realisierbar.

Schließmechanismus der besonderen Art

Die Hauptbestandteile des Prüfadapters bestehen weitgehend aus der Grundbox, den Kontakteinheiten, der Extensionbox und natürlich dem Deckel, der mit einer neuartigen Hebelmechanik mit der Grundbox verbunden ist. Diese Mechanik ermöglicht eine einfache Bedienung sowie eine horizontale bzw. parallele Kontaktierung des Prüflings. Im Deckel gewährleistet eine schwimmende und zur unteren Kontakteinheit selbstzentrierende Platte, ausgestattet mit Niederhaltern, eine mühelose Aktivierung der Kontakteinheit. Dank der einfachen und werkzeuglosen Verriegelung kann diese Platte alternativ auch durch eine weitere Kontakteinheit ersetzt werden. Somit lassen sich Baugruppen gleichzeitig von der Ober- und Unterseite im Sandwich-Verfahren kontaktieren.

Die bauteilbedingten Unterschiede in der Topologie der einzelnen Prüflinge können durch den eingestellten 20-mm-Hub des Deckels leicht ausgeglichen werden – wobei aufgrund des Deckeldesigns Baugruppen bis zu 60 mm Bauteilhöhe kontaktiert werden können.