Mess- und Prüftechnik
Keysight erstmals unter neuem Namen auf der electronica
7. November 2014, 16:38 Uhr |
Nicole Wörner
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Fortsetzung des Artikels von Teil 4
Materialcharakterisierung im Frequenzbereich von Millimeterwellen bis THz
Messebesucher lernen auf dem Keysight-Stand wie man die relative Dielektrizitätskonstante und den Verlustfaktor dielektrischer Materialien im Frequenzbereich von Millimeterwellen bis THz misst und wichtige Informationen erhält, die für Material- und Schaltungsentwicklung, Modellierung, Forschung, Produktion und Qualitätskontrolle benötigt werden.
Diese Informationen sind besonders wichtig in den Bereichen Stealth-Materialien, dielektrische Substrate, Mikrowellen-Lebensmittel, Biokraftstoffe und andere Bereiche, in denen die elektromagnetischen Materialeigenschaften von großer Bedeutung sind.
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