Hochvolt-MOSFETs

Wirkungsgrad steigern mit CE-MOSFETs

22. November 2012, 15:14 Uhr | Von René Mente
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Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Verringerung der Gate-Ladung

Typische Gate-Ladung und Aufbau eines AD/DC-Schaltnetzteils.
Bild 3. Typische Gate-Ladung Q9 für einen Durchlasswiderstand RDS(on) von 190 bis 950 mΩ. Bild 4. Typischer Aufbau eines AC/DC-Schaltnetzteils.

Eine der wichtigsten Verbesserungen ist das Verringern der Gate-Ladung Qg, da dies durch die geringeren Treiberverluste den Wirkungsgrad bei geringen Lasten erhöht. Außerdem ist es möglich, den MOSFET mit einem Gate-Treiber mit geringer Treiberleistung anzusteuern, was die Systemkosten senken kann.

Bild 3 stellt die Gate-Ladung Qg in Abhängigkeit vom maximalen Durchlasswiderstand RDS(on) im Bereich von 190 bis 950 mΩ dar. Es zeigt sich eine Verringerung der Gate-Ladung um 40 % im Vergleich zum Standard-MOSFET. Der Einfluss auf den Wirkungsgrad bei geringeren Lasten wird weiter unten erläutert.

Zielapplikationen

Der 500-V-CE eignet sich für verschiedene Applikationen, wie sich anhand eines typischen AC/DC-Schaltnetzteiles (SMPS) darstellen lässt (Bild 4).
Der 500-V-CE ist prädestiniert für die Leistungsfaktorkorrektur (PFC) bzw. genauer für die Boost-Stufe eines Schaltnetzteiles. Außerdem werden DC/DC-Anwendungen adressiert - hart schaltende Topologien (TTF-Umsetzer) ebenso wie resonant schaltende Topologie (LLC-Umsetzer). Das führt zu folgenden Schlüsselanwendungen für die CE-MOSFETs:

  • PC-Silverboxen
  • LCD/LED/PDP-Fernsehgeräte
  • Spielekonsolen
  • Beleuchtungsanwendungen

Für den Wirkungsgrad-Vergleich zwischen 500-V-CE- und Standard-MOSFETs wurde eine CCM-Leistungsfaktorkorrektur (Continuous Conduction Mode) herangezogen; die harte Kommutierung an der leitenden Body-Diode wurde - wie sie für resonante Topologien relevant ist - über eine Halbbrücken-Konfiguration ausgeführt. Beide Vergleiche werden dargestellt.

Um ein aussagekräftiges Ergebnis in Bezug auf den Wirkungsgrad zu erhalten, ist die CCM-Leistungsfaktorkorrektur dank ihres einfachen Aufbaus und der fixen Frequenz gut geeignet. Dafür wurden folgende Parameter gewählt: UIN = 90 VAC; UOUT = 400 VDC; POUT = 0 bis 400 W; f = 100 kHz; RG,ext = 5 Ω. Genutzt wurde ein Plug&Play-Szenario eines IPP50R280CE und eines vergleichbaren Standard-MOSFETs.

Ausgangsleistung und Wirkungsgrad-Unterschied.
Bild 5. Die Ausgangsleistung POUT im Vergleich zum absoluten Wirkungsgrad (oben) und der Wirkungsgrad-Unterschied (relative Werte; unten) zwischen einem 500-V-CE-MOSFET und einem Standard-MOSFET (UIN = 90 VAC; RG,ext = 5 Ω ; f = 100 kHz; UOUT = 400 VDC).

Dieser Testaufbau mit der Eingangsspannung von 90 VAC und damit höheren Strömen im PFC-MOSFET stellt ein Worst-Case-Szenario dar. Die Schaltfrequenz von 100 kHz repräsentiert die durchschnittliche Frequenz, wie man sie im Markt vorfindet (üblicherweise zwischen 65 und 135 kHz). Die Umgebungstemperatur beträgt 25 °C und der Kühlkörper wurde auf 60 °C vorgeheizt; das entspricht der in Schaltnetzteilen typischen Temperatur.

Bild 5 gibt die Ergebnisse für den Wirkungsgrad-Vergleich wieder, und zwar in absoluten (oben) und in relativen Werten (unten). - Diese Plug-and-Play-Messung zeigt die Vorteile der 500-V-CE-MOSFETs insbesondere bei kleinen Lasten. Der höchste Wirkungsgrad wurde bei etwa 150 W mit einem Absolutwert von 95,5 % gemessen - mit einer Verbesserung von 0,3 bis 0,4 % im Bereich von 100 bis 400 W. Der größte Unterschied konnte bei 40 W, also bei 10 % der maximalen Last beobachtet werden: Unter diesen Lastbedingungen ist der 500-V-CE um etwa 0,9 % besser. Dies basiert im Wesentlichen auf der um 40 % reduzierten Gate-Ladung.

Eine höhere Schaltgeschwindigkeit kann auch zu negativen Effekten führen: So können große di/dt-Werte zu Spannungsspitzen in Kombination mit parasitären Induktivitäten führen. Die höchsten di/dt-Werte werden bei der harten Kommutierung an der leitenden Body-Diode erreicht, wenn die Speicherladung Qrr der Body-Diode ausgeräumt werden muss.


  1. Wirkungsgrad steigern mit CE-MOSFETs
  2. Verringerung der Gate-Ladung
  3. Harte Kommutierung der leitenden Body-Diode

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