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Friedrich-Alexander-Universität

SiC besser verstehen

Forscher der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) haben eine einfache und zugleich präzise Methode entwickelt, wie sie Defekte in SiC-Transistoren aufspüren können.

Ultra-Low-Power-PMIC MAX20345

Optische Messungen mit höchster Empfindlichkeit

Der Ultra-Low-Power-PMIC MAX20345 verfügt über einen optimierten Buck-Boost-Regler für…

Osram OS und GaN Systems

40 A-Treiber mit 1 ns Anstiegszeit für LiDAR-Systeme

Osram Opto Semiconductors hat für 2019 einen Laser mit 480 Watt optischer Spitzenleistung…

Liefervertrag für Siliziumkarbid-Wafer

Auch STMicroelectronics bindet sich langfristig an Cree

Nach Infineon und einem namentlich nicht genannten weltweit führenden Chiphersteller ist…

Formel E

Neuer elektrischer ZV-Antriebsstrang für Venturi VFE-05

Die fünfte Saison der FIA Formula E startet der neue Venturi VFE-05 mit einem neu…

Vertikale Galliumoxid-MOSFETs

Nun kostengünstig und leicht herzustellen

Ein vollständiges Ionen-Implantationsverfahren für den Wide-Bandgap-Halbleiter Galliumoxid…

Markt&Technik-Forum Halbleiter (2)

Kurzfristig? Geht eigentlich nicht!

Waren die Lieferzeiten für Halbleiter im Jahr 2017 deutlich gestiegen, wurde bereits Ende…

Markt&Technik-Forum Halbleiter

Der Halbleiterbedarf wächst – so oder so

Der WSTS geht in seiner Herbstprognose davon aus, dass der weltweite Halbleitermarkt in…

Jean-Marc Chery, CEO STMicroelectronics

Die Industrieelektronik wird ausgebaut

Seit Mai 2018 ist Jean-Marc Chery President und CEO von STMicroelectronics. Markt&Technik…

Kommentar

Das Jahr des eskalierenden Handelsstreits

Sah es kurzfristig so aus, als ob es zu einer leichten Entspannung zwischen China und USA…