Design

Neuer Ansatz für optimale Testmuster

Kritische Bereiche liefern die effizientesten Testmuster

Fokussiert auf die kritischen Bereiche lassen sich mit automatischen Testmustergeneratoren die effektivsten Testmuster erzeugen und auswählen. Damit sind hochwertige Tests von IC-Entwürfen in kürzerer Zeit möglich.

Netzverstärkung

Kindergeburtstag mit Dr. R2D2

Apple mag nicht mehr, Streit um Arm und ein Hugo für die Medizintechnik. Das sind unter…

Chipmarkt

»Die richtige Balance finden«

Der Chipdesigner Arm ist aktuell so etwas wie das letzte Stück Torte auf einem…

Wearables und Medizintechnik

PPG-ICs & -Systeme im Praxistest – Teil 2

Ohne Software lassen sich mit den ICs und SiPs, die das Pulsoximetrieverfahren anwenden,…

Software für IC-Entwickler

Simulieren – mit KI

Was können Simulationsprogramme aktuell leisten, um Entwicklern die Arbeit zu erleichtern?…

Energieeffizientes KI-System

AI goes Ultra-Low-Power – Teil 2

Nachdem im 1. Teil [5] das Gesamtkonzept eines Ultra-Low-Power-Beschleunigers für die EKG-…

Energieeffizientes KI-System

AI goes Ultra-Low-Power – Teil 1

Einer der Sieger im Wettbewerb um die Entwicklung eines energieeffizienten KI-Systems für…

IC-Designtool

Eine CAD-Plattform für 3D-ICs

Mit Integrity 3D-IC bringt Cadence eine umfassende CAD-Plattform für dreidimensionale…

EDA – Power-Integrity-Analyse

Ein Tool für analoge, digitale und Mixed-Signal-IC

Mit mPower steigt Siemens EDA in die Leistungsanalyse für integrierte Schaltungen ein. Es…

Plastik statt Silizium

Jetzt kommen die 1-Cent-ICs!

Nicht nur einen vollkommen neuen Prozess, sondern gleich auch noch die darauf…