HTV-Institut für Materialanalyse

Akkreditiertes Prüflabor nach DIN ISO/IEC 17025

1. Juni 2021, 15:24 Uhr | Heinz Arnold
Schichtdickenmessungen mittels RFA ermöglichen beispielsweise eine schnelle und zerstörungsfreie Untersuchung von Leiterplatten-Lötoberflächen.
Schichtdickenmessungen mittels RFA ermöglichen beispielsweise eine schnelle und zerstörungsfreie Untersuchung von Leiterplatten-Lötoberflächen.
© HTV

Das HTV-Institut für Materialanalyse hat die Akkreditierung nach dem internationalem Standard DIN EN ISO/IEC 17025 durch die DAkkS erhalten.

Am HTV-Institut werden »Schichtdickenmessungen an MetaIlen mit dem RöntgenfIuoreszenz-Verfahren« gemäß DIN EN ISO 3497:2001-12 durchgeführt.

HTV ist einer der weltweit führenden Anbieter für Dienstleistungen rund um elektronische Komponenten. Neben Test und Langzeitkonservierung elektronischer Bauteile und Baugruppen ist insbesondere die Analytik eine der Kernkompetenzen von HTV.

Im eigenen Institut für Materialanalyse werden mit hochmodernem Equipment und verschiedensten Methoden neben fertigungsbegleitenden Qualitätskontrollen unter anderem auch Fehleranalysen, Counterfeit-Screenings oder Qualifikationen an elektronischen Komponenten durchgeführt.

Als eines von wenigen Laboren in Deutschland bietet HTV damit Ergebnisse für Schichtdickenmessungen mit der RöntgenfIuoreszenz-Analyse (RFA) an, die international anerkannt und weltweit vergleichbar sind.

Schichtdickenmessungen mittels RFA ermöglichen beispielsweise eine schnelle und zerstörungsfreie Untersuchung von Leiterplatten-Lötoberflächen, Korrosionsschutzschichten, Chromatierungen, Hartgold-Platings auf Steckverbindern oder Schichtdicken eines Leiterplatten-Finishs.

 


Das könnte Sie auch interessieren

Verwandte Artikel

HTV Halbleiter-Test & Vertriebs-GmbH