Hochfrequenz-Messtechnik
2. RF- und Wireless-Technologietag von NI und Noffz
National Instruments und sein Platinum-Alliance-Partner Noffz Technologies veranstalten am 22. Juni 2016 in Tönisvorst bei Düsseldorf einen Technologietag zum Thema RF- und Wireless-Test.
Das industrielle Internet der Dinge (IIoT) entwickelt sich rasant: Laut einer Prognose des Marktforschungsunternehmens Gartner werden in diesem Jahr pro Tag 5,5 Millionen neue Geräte vernetzt.
Auch RF-Testsysteme müssen mit diesen Fortschritten mithalten. Während im Verbraucherbereich der Test von mobilen Endgeräten wie Smartphones, Tablets und Smartwatches die Herausforderung darstellt, sind es in der Automobilindustrie beispielsweise eCall-, NAD-, Car2Car- oder Telematik-Module.
Um diese zunehmend intelligenteren Geräte zeit- und kosteneffizient zu testen, bieten NI und Noffz Technologies vielseitige skalierbare Lösungen und tiefes Experten-Know-how.
Auf dem Technologietag geben die beiden Partner nun einen Einblick in die neuesten Trends im gesamten Produktentstehungsprozess für RF-Tests.
Verschiedene Workshops bieten Gelegenheit, PXI-basierte RF-Messtechnik anhand praxisorientierter Übungen kennenzulernen.
Themenschwerpunkte:
• Mobile Device Test
• Communication System Design
• RF Validation & Manufacturing Test
• Multi DUT RF Test for Cellular and Connectivity Applications
• Non-Signaling Chip Testing
• NearField Communication (NFC) & Wireless Power Charging (WPC)
Weitere Informationen zur Anmeldung sowie die ausführliche Agenda stehen auf der Detailseite von National Instruments Deutschland bereit.
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