electronica virtual / VX Instruments
Neues 2-µs-Laser-Dioden-Testsystem
VX Instruments erweitert sein Portfolio um das Laserdioden-Testsystem LTS8620. Es handelt sich um ein integriertes PXI-Testsystem für die Charakterisierung von Laserdioden anhand ihrer LIV-Kennlinien. Weiterhin kann das System für schnelle Tests in der Produktion eingesetzt werden.
Durch die extrem kurzen Pulszeiten, beginnend bei 2 µs, werden Wärmeeinflüsse auf den zu charakterisierenden Laser minimiert. Damit sind auch Messungen an Bare-Die Prüflingen möglich.
Aktuell sind mit diesem System Ströme bis 250 mA und die Messung aller Parameter möglich - mit einer Auflösung von 16 bit und einer Samplerate von bis zu 100 MSample/s. Zwei zusätzliche, unabhängige Kanäle zum Anschluss von Photo-Dioden ermöglichen weitere umfangreiche Messungen.
Das LTS8620 besteht aus einer Kombination von Standard-PXI-Instrumenten (Embedded Controller, Arbiträrgenerator, Waveform Digitizer, PXI SMU) und einer für den speziellen Anwendungsfall entwickelten Adapter-Box (LTA8602). Um externe Störeinflüsse zu minimieren, kann die Adapter-Box sehr nahe am Prüfling platziert werden. Die Verbindung zum Testsystem selbst erfolgt über Standardkabel.
Das System ist vom Anwender frei programmierbar und ein Anwendungsbeispiel in LabVIEW steht zur Verfügung.
Weitere Infos gibt es auf dem virtuellen electronica-Messestand von VX Instruments (Halle 5).
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