Vorstellung einer Messmethode
Sind die ADCs für wirklich raue Einsatzbedingungen geeignet?
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Konfiguration des Logikanalysators
Der Logikanalysator muss so konfiguriert werden, dass er die geeigneten Daten erfasst und diese an einem bekannten Speicherort ablegt. Dies lässt sich im Run/Stop-Menü auswählen, wie Abbildung 5 zeigt. Im Run/Stop-Menü wird unter »Run Properties« ausgewählt, was alles aufgezeichnet werden soll, wenn der Advanced Trigger einen Abtastwert außerhalb des festgelegten Schwellenwerts erkennt. In diesem Fenster wird dem Logikanalysator vorgegeben, dass er nach jeder Erfassung die Daten speichert, den Dateinamen zwischen den Messungen fortschreibt und nach 10 Erfassungen die Messung beendet. Dieser Stopp ist hauptsächlich eine Sicherheitsmaßnahme, da nur eigentlich eine Datenerfassung notwendig ist. Zusätzlich werden der Speicherort und der Dateityp festgelegt. Die aufgezeichneten Daten beinhalten alle Signaldaten inklusive der Messdaten, die die Schwelle verletzen, versehen mit einem Zeitstempel für jeden Datenpunkt. Das Abspeichern des Zeitstempels zusammen mit den Daten liefert die Länge eines SET. Dies erlaubt die Identifizierung eines einzelnen oder eines mehrfachen Ereignisses mit Hilfe von Software, die die Zeitdifferenz zwischen den Zeitstempeln berechnet, um die Anzahl der Sample-Perioden zwischen den aufgezeichneten SET-Ereignissen zu ermitteln.
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Ein SEFI-Ereignis kann dadurch identifiziert werden, dass der Zähler sein Maximum erreicht. In diesem Fall erfolgt ein zweites Auslesen des ADC-Ausgangscodes mit einer gewöhnlichen Datenerfassung des Logikanalysators. Wenn der ADC-Ausgangscode bei einem Wert außerhalb des erwarteten Fensters bleibt, dann ist möglicherweise ein SEFI aufgetreten. Sobald diese Bedingung identifiziert wurde, sollte ein Reset des Bausteins, falls möglich, erfolgen. Nach dem Reset wird eine erneute herkömmliche Datenerfassung ausgeführt, um festzustellen, ob die Bedingung beseitigt wurde. Ist dies nicht der Fall, sollte ein Aus- und Einschalten erfolgen, gefolgt von einer erneuten Standarddatenerfassung. Falls der ADC-Ausgangscode immer noch nicht zum erwarteten Bereich zurückkehrt, dann ist der ADC möglicherweise dauerhaft beschädigt.
Welchen Mehrwert bietet dieser Test?
Diese Testmethode liefert die Erkennung von SET und SEFI für hochgenaue SAR-ADCs, es lassen sich einzelne und mehrfache Sample Transient Events und SEFI damit identifizieren. Diese Testmethode nutzt und überwacht den kompletten ADC, um eine reale Anwendung zu simulieren. Die Testergebnisse dieser Methode erlauben die SEE-Performance eines ADCs mit Hilfe der graphischen Darstellung einer Weibull-Fitkurve auf die Anwendung für den Wirkungsquerschnitt bei Sättigung hochzurechnen und das CRÈME96-Modell für die geeignete Umlaufbahn anzuwenden. Der hochgenaue ISL73141SEH SAR-ADC wurde mit dieser Methode getestet und zeigt ein robustes SEE-Verhalten, wenn dieser schweren Ionen ausgesetzt ist. Die Testergebnisse stehen bereit unter: ISL73141SEH SEE Report.
Der Autor
Jonathan Harris ist Applikationsingenieur bei Renesas in der Space- und Hi-Rel-Produktgruppe in Palm Bay, Florida. Er hat über 15 Jahre Applikationserfahrung, davon mehr als 10 Jahre beim Support von ADC-Produkten.
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