embedded world Conference 2013
Die Classes im Überblick
Fortsetzung des Artikels von Teil 11
Entwicklungsmethoden, Werkzeuge und Tests– gelebte Tradition
Teilnehmer und Referenten der embedded world Conference sind jedes Jahr erneut gespannt, was sich in diesen so wichtigen Segmenten der Embedded-System-Entwicklung Neues getan hat. Und wie jedes Jahr sind die Sessions „Development Methods and Tools" sowie „Verification, Simulation and Test Methods" Magneten im Konferenzprogramm. Ein Hauptgrund ist sicher der unmittelbare Nutzen für die eigene Arbeit, denn präsentiert werden ausschließlich Lösungen, tief technisch präsentiert, direkt praktisch anwendbar.
Session 12 „Development Methods and Tools I/II", 27. Februar 09:00 Uhr
Session 13 „PCB & Board Level Design", 27. Februar 16:00 Uhr
Vorgehensmodelle und neue, verbesserte Tools zur sicheren Fehlerdiagnose sind ebenso Bestandteil des Vortragsprogramms wie komponentenbasierte Softwareentwicklung und Architekturvorschläge für Ereignis- oder Zeit-getriggerte Software. Doch in diesem Jahr werden auch Hardwareentwickler Unterstützung bei ihren Fragestellungen finden, denn auch auf diesem Gebiet tut sich Beträchtliches.
Session 23 „Verification, Simulation and Test Methods I/II", 28. Februar 09:00 Uhr
Der hohe Qualitätsanspruch an Embedded Systeme, die nicht selten über Leben und Gesundheit von Menschen entscheiden, hat in den vergangenen Jahren dazu geführt, dass Tests in den Unternehmen eine hohe Akzeptanz erfahren. Doch Tests sind oft unbeliebt – sie kosten Geld und Zeit ohne dass sie das Produkt nach außen hin mit neuen Features ausstatten. Umso wichtiger sind eine hohe Effizienz beim Testen und eine möglichst hundertprozentige Fehlerbereinigung.
Um dies zu erreichen, ist guter Rat NICHT teuer, denn es gibt die Session „Verification, Simulation and Test Methods" im Rahmen der embedded world Conference 2013. Erfahrene Unternehmen zeigen und erläutern Strategien und Wege für ein erfolgreiches Überprüfen der geplanten Systemparameter, und dies auch im Zusammenspiel mit weiteren Baugruppen.
Diese Thematik betrifft Entwickler wie Testingenieure gleichermaßen – ein Grund mehr, die embedded world Conference 2013 zu besuchen.
Weitere Informationen finden Sie auf der Homepage: www.embedded-world.eu
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