Produkt

Advantests T5822-System

Schnelle und parallele Speichertests auf Wafer-Ebene

DRAM-, NAND- und andere nicht-flüchtige Speicher-Bauteile lassen sich mit dem neuen T5822-System von Advantest kostengünstig testen.

Yxlon

Neuer Global Director Electronics Sales

Keith Bryant ist neuer Global Director Electronics Sales beim Prüf- und…

Reinhardt System- und Messelectronic

Kombinierter Incircuit- und Funktionstester

Das ATS-MFT 770 ist laut Hersteller das leistungsfähigste Incircuit- und…

Göpel Inspection Days 2017

Gipfeltreffen der AOI-, AXI- und SPI-Anwender

Wie jedes Jahr richtet Göpel Electronic auch 2017 wieder die Inspection Days in Jena aus.…

Neue PXI-Geräte von National Instruments

Für intelligentere Prüfsysteme

National Instruments hat ein neues PXI-Oszilloskop mit acht Kanälen und 100 MHz…

VarioTAP-Option von Göpel Electronic

Cypress USB-3.0-Controller testen und programmieren

Bisher ließen sich die USB-3.0-Controller von Cypress nicht in Board-Tests integrieren.…

Prüftechnik Schneider & Koch

»Die Nachfrage nach AOI-Tischsystemen zieht an«

Mit den steigenden Anforderungen an die Rückverfolgbarkeit investieren immer mehr Firmen…

Fraunhofer EZRT

CT-Prüfung 3D-gedruckter Bauteile

Um die Produktqualität additiv (z.B. im 3D-Druck) gefertigter Objekte nicht dem Zufall zu…

Göpel Electronic / Interview

»Wir erwarten anhaltendes Wachstum im indischen Markt«

Lohnt es sich für ein deutsches Unternehmen, im schwierigen indischen Markt zu…

IMS statt PCB

Optimale Entwärmung von GaN-Bauelementen auf Systemebene

Gerade bei hohen Strömen und Leistungen muss besonderes Augenmerk auf die thermische…