Produkt

Baugruppen-/Leiterplattentest

IMS statt PCB

Optimale Entwärmung von GaN-Bauelementen auf Systemebene

Gerade bei hohen Strömen und Leistungen muss besonderes Augenmerk auf die thermische Optimierung eines Systems gelegt werden. Auch bei GaN-Transistoren für Leistungsanwendungen ist eine gut funktionierende Entwärmung entscheidend für die…

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© xray-lab

Industrielle Computertomografie

CT-Nachrüst-Kit verspricht dreifach kürzere Prüfzeiten

Messdienstleister verzeichnen eine steigende Nachfrage nach Computertomografie-Prüfungen.…

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America first?

Sino IC Capital will US-Firma Xcerra übernehmen

Eine chinesische Investmentfirma will einen amerikanischen Hersteller von Test-Equipment…

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Jahresabschluss 2016

Engmatec verbucht Rekordumsatz

Für den Radolfzeller Prüftechnikspezialisten Engmatec war 2016 das bislang erfolgreichste…

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© Viscom

Viscom / SMT 2017

Schnelle 3D-Inline-Röntgeninspektion

Sehr kurze Handlingzeiten, eine hohe 3D-Bildqualität und eine erweiterte Prüftiefe…

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Göpel Electronic

Prüftechnologie-Forum zur Qualitätssicherung

Zum zweiten Mal veranstaltet Göpel Electronic das Prüftechnologie-Forum im Weimar. Am 04.…

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Göpel auf der embedded world

Alles für den Test von Embedded Systemen

Moderne Prüftechnologien, leistungsfähige Restbussimulation in Fahrzeugnetzwerken und…

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Prüftechnik / Elektronikfertigung

Göpel und Enics kooperieren

Göpel electronic erweitert sein strategisches Partnerschaftsprogramm GATE (Goepel…

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Mess- und Prüftechnik

Generationswechsel bei Göpel electronic

Zum 1. Januar 2017 hat Manfred Schneider, Mitbegründer von Göpel electronic, langjähriger…

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Göpel auf dem sechsten ETFN

Für Inspektion und Produktion

Auf dem Elektronik Technologie-Forum-Nord präsentiert Göpel 3D-Inspektionslösungen (AOI,…

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