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Baugruppen-/Leiterplattentest

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ATEcare

»3D-AOI – es gibt keine 'schönen' 3D-Bilder!«

Im Zusammenhang mit 3D-AOI werben viele Firmen mit Begriffen wie »reflexionsfrei«, »keine Schattenbildung«, »3D-Bilder«, etc. Doch schöne 3D-Bilder entsprechen nicht den korrekten 3D-Messwerten. Olaf Römer von ATEcare erklärt die technischen…

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Prüftechnik Schneider & Koch / Interview

»Der Fokus auf die Nische ist für uns der richtige Weg«

Während sich die großen Anbieter am Markt für optische Baugruppen-Inspektionssysteme ein…

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Advantests T5822-System

Schnelle und parallele Speichertests auf Wafer-Ebene

DRAM-, NAND- und andere nicht-flüchtige Speicher-Bauteile lassen sich mit dem neuen…

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© Yxlon

Yxlon

Neuer Global Director Electronics Sales

Keith Bryant ist neuer Global Director Electronics Sales beim Prüf- und…

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© Reinhardt System- und Messelectronic

Reinhardt System- und Messelectronic

Kombinierter Incircuit- und Funktionstester

Das ATS-MFT 770 ist laut Hersteller das leistungsfähigste Incircuit- und…

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Göpel Inspection Days 2017

Gipfeltreffen der AOI-, AXI- und SPI-Anwender

Wie jedes Jahr richtet Göpel Electronic auch 2017 wieder die Inspection Days in Jena aus.…

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© National Instruments

Neue PXI-Geräte von National Instruments

Für intelligentere Prüfsysteme

National Instruments hat ein neues PXI-Oszilloskop mit acht Kanälen und 100 MHz…

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© Cypress Semiconductor

VarioTAP-Option von Göpel Electronic

Cypress USB-3.0-Controller testen und programmieren

Bisher ließen sich die USB-3.0-Controller von Cypress nicht in Board-Tests integrieren.…

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© Prüftechnik Schneider & Koch

Prüftechnik Schneider & Koch

»Die Nachfrage nach AOI-Tischsystemen zieht an«

Mit den steigenden Anforderungen an die Rückverfolgbarkeit investieren immer mehr Firmen…

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© Fraunhofer IIS

Fraunhofer EZRT

CT-Prüfung 3D-gedruckter Bauteile

Um die Produktqualität additiv (z.B. im 3D-Druck) gefertigter Objekte nicht dem Zufall zu…

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