Live-Demos des neuen Testsystems EVA100 Digital Solution sind auf dem productronica-Messestand von Advantest zu erleben.
Das EVA100 ist für den Test unterschiedlichster digitaler ICs ausgelegt, darunter MCUs, IoT-, Flash-, DFT/BIST-angetriebene kleine FPGA/ASICs, Fingerprint ICs und digitale Sensor-IC-Bauteile – von der Entwicklung bis hin zur Produktion mit hohem Produktmix und kleinen Stückzahlen.
Angefangen bei der Design-Evaluierung und dem Wafer-Sort-Test eignet sich das System auch für den Package- und DFT-Test sowie für die Package- und IP-Validierung, die Fehler-Analyse und den System-Level-Test.
Die Funktionen des digitalen Testsystems…
...umfassen sowohl die Pattern-Generierung und den Pattern-Vergleich für die Evaluierung von Bauteil-Designs und die digitale Steuerung als auch Messungen an Stromversorgungen sowie analoge 18-Bit-Messungen. Das System führt alle diese Tests mit Datenübertragungsraten von 100 Mbps und Taktraten bis zu 200 MHz durch.
Die Testprogrammerstellung erfolgt über eine intuitive Bedienoberfläche. Das kompakte System (220 x 206 x 472 mm) lässt sich mit bis zu 256 digitalen I/O und 16 Stromversorgungen ausstatten. Dabei können bis zu vier digitale Testeinheiten zusammengeschaltet werden, um Konfigurationen von bis zu 1024 Digitalkanälen zu realisieren.
Advantest auf der productronica 2017: Halle A1, Stand 144