Ein Besuch bei Advantest in Böblingen
Wo Halbleiter-Testsysteme entwickelt werden
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
V93000: ein Tester für jeden Pin
Noch zu HP-Zeiten entstand der V93000-Tester, bis heute eines der erfolgreichsten Halbleiter-Testsysteme. Die skalierbare Plattform kann für unterschiedliche Anwendungen eingesetzt werden. So existieren Versionen für den Speichertest, für SoCs (System-on-Chip) oder für HF-Systeme.
Das besondere an den V93000-Systemen ist die flexible Ansteuerung der Pins. Hinter jedem Pin steht eine eigene Controller-Elektronik mit individueller Peripherie. Das Konzept dahinter nennt Advantest »Tester-per-Pin«. Ein selbst entwickelter ASIC-Baustein sorgt darin für einen reibungslosen Ablauf der Tests.
Um den Anforderungen verschiedener Anwendungen gerecht zu werden, ist der V93000 modular aufgebaut: So kann zum einen die Schnittstelle zum DUT (Device Under Test, das zu testende Gerät) angepasst werden. Zum anderen enthält der Testkopf mehrere Module, die aus Controller und Peripherie-Geräten bestehen. Es existieren vier verschiedene Größen des Testkopfs: Die A-, C-, S- und L-Klasse bieten Platz für acht, 16, 32 und 64 Module. Die Module sind als Einsteckkarten realisiert. Es gibt Karten mit digitalen Kanälen, Stromversorgungen, Digitizern und vielem mehr.
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Kompatibilität über alle Generationen
Mit den Jahren sind immer neue Module entstanden, die immer mehr Leistungsfähigkeit und zum Teil auch immer mehr Kanäle in einem Modul integrieren. Das Modul Pin Scale 1600 steuert zum Beispiel 128 digitale Kanäle bzw. Pins an. Beim Modul Pin Scale 9G ist die Pin-Zahl mit 64 etwas niedriger, dafür liegen die Datenübertragungsraten bei über 8 Gbit/s.
Großen Wert legt Advantest auf die Kompatibilität. Alle Generationen der Module können in allen Größenklassen des Testkopfes eingesetzt werden. Das gilt genauso auf der Ebene der DUT-Schnittstellen, die eingebaut werden können. Eine einheitliche GUI und kompatible APIs für die Teststeuerung machen die Anpassung der Systeme für den Anwender einfach.
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- V93000: ein Tester für jeden Pin
- HF-Tests für das IoT
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