Eine besondere Anwendung für die V93000-Tester ist der Test von Hochfrequenz-(HF)-Komponenten. HF-Anwendungen werden immer wichtiger, Schlagwort Internet of Things (IoT). Verschiedene Kommunikations-Schnittstellen werden dafür genutzt: von WLAN über Bluetooth bis hin zu LTE oder 5G. Die höheren Datenraten werden zum Teil durch höhere Frequenzen, vor allem aber auch durch die Nutzung mehrerer paralleler Kanäle erreicht.
Für den Test von IoT-Systemen ist diese Parallelität also ebenfalls wichtig. Neben dem Test der Datenübertragung mit parallelen Kanälen können so auch mehrere Tests gleichzeitig durchgeführt werden. So steigt letztendlich der Testdurchsatz.
Diese Anforderungen soll die Wave-Scale-Familie erfüllen, eine Serie von Modulen für die V93000-Tester. Zu der Familie gehören unter anderem kombinierte Aribträrfunktionsgeneratoren (AWG) und Digitizer-Module, Stromversorgungsmodule und Clock-Module. Zusammen mit RF-Schnittstellenmodule für das DUT können damit umfangreiche Tests an HF-Komponenten durchgeführt werden.
Die wichtigste Messkarte der Reihe ist die Wave Scale RF. Die Karte besteht aus vier HF-Subsystemen. Jedes Subsystem hat acht HF-Ports, so dass insgesamt pro Karte 32 Ports zur Verfügung stehen. Intern hat jedes Subsystem einen AWG zur Stimulation und ein eigenständiges Messsystem. Der Testprozessor der Wave Scale RF synchronisiert Messungen und Stimulationen für alle Ports des Subsystems.
Mit der Nutzung nur eines Subsystems können so bis zur vier Empfängertests gleichzeitig durchgeführt werden. Sendertests müssen nacheinander erfolgen, doch der Testprozessor des Wave Scale RF synchronisiert und startet die Messungen so, dass sie in kürzester Zeit hintereinander ausgeführt werden.
Durch die Kombination beider Methoden können auch Messungen für verschiedene Kommunikationsstandards (WLAN, GPS, 5G,…) in sehr kurzer Zeit durchgeführt werden.