National Instruments
PXI-basiertes Wireless Test System
Für den Produktionstest in der Großserienfertigung von Mobilfunkgeräten hat National Instruments das Wireless Test System (WTS) entwickelt. Basierend auf der PXI-Hardwareplattform und der Software LabVIEW sowie TestStand unterstützt es Funkstandards von LTE Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth Low Energy.
Das Wireless Test System (WTS) ist für Produktionstests von WLAN Access Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die z.B. Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind.
Die im WTS verwendete SDR-Technologie des PXI-Vektorsignal-Transceivers ermöglicht bessere RF-Leistungsmerkmale bei Produktionstests und schafft eine Plattform, die sich an die wechselnden Anforderungen im RF-Test anpassen lässt.
Dank der flexiblen PXI-Architektur eignet sich das WTS für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge mit jeweils einem oder mehreren Anschlüssen.
Zudem lässt es sich aufgrund seiner integrierten Ansteuerung der Prüflinge, den Mechanismen zur dezentralen Automatisierung sowie fertiger Testpläne für Chipsätze von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom einfach in eine Fertigungslinie integrieren.
National Instruments auf der productronica 2015: Halle A1, Stand 265
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