Von der Entwicklung bis zur Produktion

Durchgängige Embedded-JTAG-Solutions-Teststrategie

28. August 2024, 9:22 Uhr | Von Alexander Labrada Diaz, Göpel Electronic
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Optimierung von Prozessen

Produktionsprozesse unterliegen ebenfalls der kontinuierlichen Optimierung. Effizienz, Durchsatz und natürlich die Qualität müssen stetig steigen.

Prozesskreislauf der Elektronikentwicklung
Bild 3. Prozesskreislauf der Elektronikentwicklung.
© Göpel Electronic

Das Henne-Ei-Problem tritt auf, wenn Prozesse schon frühzeitig definiert werden und späte Designänderungen zu ineffizienten oder sogar inkompatiblen Systemen führen. Um einen möglichst reibungslosen und termingerechten Übergang von der Entwicklung in die Produktion zu gewährleisten, müssen Fertigungsprozesse aber schon frühzeitig entwickelt werden (Bild 3).
 
Embedded JTAG Solutions (EJS) können auch hier eine Brücke zwischen Entwicklung und Produktion schlagen. Beiden Bereichen stehen die gleichen Instrumente zur Verfügung. Dadurch lassen sich auch Prozeduren und bereits entwickelte und in Betrieb genommene Funktionen einfach aus der Entwicklung in die Produktion überführen. So bekommen Hardwareentwickler ein Werkzeug, mit dem sie ihre Prototypen ohne spezielle Testfirmware ansprechen, verifizieren und auch programmieren können. Gleichzeitig lassen sich diese Funktionen ohne notwendige Anpassungen direkt für das Testsystem adaptieren. Der Test- oder Prozessingenieur kann sich ausschließlich auf die Einbindung der Funktionen in den Fertigungsprozess konzentrieren. Der Aufwand nach Entwicklungszyklen reduziert sich damit ebenfalls, weil die Funktion bereits seitens der Entwicklung verifiziert wurde.

Effizienzsteigerung durch EJS

Die umfangreichen Möglichkeiten der EJS entlasten zudem andere Testsysteme. Der In-Circuit-Test (ICT) lässt sich auf relevante Bauteile reduzieren, weil der EJS-Test bereits eine hohe Testabdeckung erzeugen konnte. Auch lassen sich so Funktionstests vom End-of-Line-Test (EOL) früher im Fertigungsprozess platzieren, wenn zum Beispiel im Fehlerfall noch Reparaturen möglich sind. Es besteht zudem kein Bedarf an hoch spezialisiertem Testequipment, weil alle nötigen Instrumente nativer Bestandteil der elektronischen Baugruppe sind.

Durch die Umverteilung der Testlösungen hin zu EJS lassen sich Taktzeiten reduzieren, Diagnosemöglichkeiten verbessern und Kosten senken. Zudem können bestehende Produktionslinien und Testsysteme mit den Integrationspaketen von Göpel Electronic ausgestattet und damit EJS-Testmöglichkeiten eingefügt werden. Es bedarf keines aufwendigen Umbaus der Produktion. Integrationspakete gibt es für ICT, Flying Prober und EOL-Tester, wodurch Testressourcen interaktiv kombiniert eine bestmögliche Testabdeckung gewährleisten können.

Verzahnung von Entwicklung und Produktion

Die enge Zusammenarbeit zwischen Entwicklung und Produktion ist entscheidend, um Produkte und Prozesse erfolgreich zu realisieren. Die Verwendung eingebetteter Instrumente und die Implementierung der EJS-Teststrategie haben sich als wirksame Methoden erwiesen, um dieses Ziel zu erreichen. Durch diese Ansätze rücken beide Abteilungen näher zusammen und können Synergien nutzen, um die Effizienz und Qualität der Produkte zu steigern.

Die enge Verzahnung von Entwicklung und Produktion durch eingebettete Instrumente und die EJS-Teststrategie führt auch zu einer verbesserten Kommunikation und einem besseren Verständnis der Anforderungen und Möglichkeiten beider Abteilungen. Durch den regelmäßigen Austausch von Daten und Erkenntnissen können Engpässe oder Herausforderungen frühzeitig erkannt und gemeinsam bewältigt werden, potenzielle Konflikte vermieden und eine reibungslose Integration von Produktdesign und Fertigungsprozessen gewährleistet werden.

 

Der Autor

 

Alexander Labrada Diaz von Göpel Electronic
Alexander Labrada Diaz von Göpel Electronic.
© Göpel Electronic

 

Alexander Labrada Diaz ist Applikationsingenieur im Bereich Embedded JTAG Solutions bei Göpel Electronic.

 

 


  1. Durchgängige Embedded-JTAG-Solutions-Teststrategie
  2. Optimierung von Prozessen

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