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Tektronix / Oszilloskope

Konformitätstests für neue Standards

22. September 2016, 14:23 Uhr | Nicole Wörner

Tektronix erweitert seine Oszilloskope der Serie DPO70000SX um neue Testmöglichkeiten für die aktuellsten seriellen Busstandards wie USB 3.1, Thunderbolt über USB Type-C, PCIe Gen4 und DDR4.

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Tektronix hatte die DPO70000SX-Serie im Frühjahr 2015 vorgestellt – als erster Vertreter einer neuen Signalerfassungstechnologie namens ATI (Asynchronous Time Interleaving).

Die Geräte zeichnen sich durch eine hohe Signaltreue und ein geringes Eigenrauschen aus – auch bei hohen Bandbreiten von bis zu 70 GHz. Daraus ergibt sich eine hohe Signalwiedergabequalität, die wiederum eine genaue Margin-Analyse bei seriellen Bussen der 4. Generation mit Datenraten von mehr als 10 Gb/s ermöglicht. Features der neuen Testlösungen für die aktuellsten seriellen Datenstandards sind unter anderem die automatisierte Einrichtung und Ausführung von Tests, integrierte Report-Funktionen, detaillierte Analysen und vieles mehr. Zukunftssicherheit ist ebenfalls gegeben: Dank der skalierbaren Architektur der DPO70000SX-Oszilloskope können Anwender mit 23- oder 33-GHz-Modellen beginnen und das System erweitern, wenn sie für den Test kommender Standards Bandbreiten von 50 GHz und mehr benötigen. Insgesamt bietet die DPO70000-SX-Serie nun mehr als 50 Lösungen für Konformitätstests auf PHY-Ebene und für die Charakterisierung sowie für das Debugging von Datenkommunikations-, Mobilfunk- und Display-Anwendungen.

Zu den wesentlichen Vorteilen der DPO-70000SX-Oszilloskope gegenüber den Geräten der vorherigen Generation zählen:

• Hohe Bandbreite, rauscharme ATI-Kanäle mit hoher Signalwiedergabequalität
• Große Messtoleranzreserven für die schnellen Signale von heute und morgen
• Flexible Architektur, die eine Aufrüstung der Geräte beim Kunden vor Ort von 23 auf 70 GHz mit kürzester Ausfallzeit erlaubt
• Triggerung mit 25-GHz-Edge-Trigger- Bandbreite, um auch die schnellsten Signale erfassen zu können
• Hochgenaue Zeitbasis, die genaue Timing- und Jitter-Messungen in schnellen Standards ermöglicht
• Integrierter Counter/Timer, der hochpräzise Timing-Messungen für die Charakterisierung von Designs und das Debugging gewährleistet.