Schwerpunkte

Oszilloskop-Plattform von Rigol

Aus UltraVision I wird UltraVision II

29. August 2018, 13:30 Uhr   |  Nicole Wörner

Aus UltraVision I wird UltraVision II
© Rigol

Systemaufbau der UltraVision-II-Plattform von Rigol

Mit steigender Komplexität unseres technischen Umfelds wachsen auch die Anforderungen an Messgeräte wie etwa Oszilloskope.Immer mehr Parameter sind bei der Auswahl des Messgeräts zu berücksichtigen. Rigol setzt dabei auf die neue Oszilloskop-Plattform UltraVision II.

In allen Bereichen von Industrie, Forschung und Ausbildung wird das Geschehen von elektrischen Signalen bestimmt, deren Vielfalt schier unbegrenzt ist und die von Gleichspannungen und analogen Schaltungen über Kommunikationsbusse bis hin zu Hochfrequenz-Applikationen reicht. Zudem werden an diese Signale immer höhere Anforderungen gestellt: Trotz unterschiedlicher Leistungspegel und höherer Geschwindigkeiten auf Datenbussen müssen Wechselwirkungen zwischen verschiedenen elektronischen Komponenten und Geräten vermieden werden. In Entwicklungs- und Prüflaboren kommt Oszilloskopen daher eine Hauptaufgabe bei der Fehlerfindung und der Signalanalyse zu.

Bei der Kaufentscheidung für ein Oszilloskop…

...spielen viele Parameter eine Rolle, aber welche sind die wichtigsten? »Natürlich steht die Bandbreite ganz oben, denn nur mit der richtigen Bandbreite kann das anliegende Signal korrekt dargestellt werden«, erklärt Wolfgang Bartels, Geschäftsführer von Rigol Technologies Europe. »Genauso wichtig ist die Abtastrate, die mindestens das 2,5-Fache der höchsten zu messenden Frequenzkomponente betragen sollte, weil sonst selbst bei richtiger Bandbreite Signaldetails verloren gehen oder falsch dargestellt werden.« Wichtig ist auch der Speicher, denn ohne einen ausreichend großen Datenspeicher sind bei höheren Zeitablenkungseinstellungen nur noch begrenzte Abtastraten möglich. Aber selbst wenn diese drei wichtigsten Parameter erfüllt sind, lassen sich spontan auftretende Signalanomalien ohne eine hohe Kurven-Wiederholrate (Waveform-Update-Rate) nicht feststellen.

»Der Grund, warum die Kurven-Wiederholrate heute so wichtig ist, liegt in der Technologie der digitalen Oszilloskope«, führt Bartels aus. »Zur Zeit der analogen Oszilloskope war diese Spezifikation weitestgehend unbekannt und vernachlässigbar, weil das Eingangssignal zur Ablenkung des Elektronenstrahls diente und die sogenannte Blindzeit nur die Zeit ausmachte, die für die Rückführung des Elektronenstrahls benötigt wurde. Mit den digitalen Oszilloskopen hat sich diese Blindzeit nun so erheblich verlängert, dass sie nicht mehr vernachlässigt werden kann. In dieser Blindzeit können keine neuen Daten erfasst werden. Was man also am Bildschirm sieht, ist nur ein Bruchteil eines Erfassungszyklus. Folglich wird die Blindzeit umso kürzer, je mehr Erfassungszyklen pro Sekunde möglich sind. Der Nutzen für den Anwender ist klar: Selten auftretende Anomalien sind wesentlich schneller erkennbar.«

Deutliche Verbesserungen

Mit immer leistungsfähigeren Prozessoren, verbesserten Hard- und Software-Architekturen und der Integration von Funktionen in die Hardware mittels FPGAs oder ASICs hat Rigol mit seiner Plattform UltraVision I die systembedingte Blindzeit bereits deutlich reduziert. Schon diese Technologie basierte auf der Interaktion zwischen spezieller Hardware und intelligenter Software. Die A/D-gewandelten Daten wurden von einem hardwareseitigen Sampling-Controller verwaltet. Mit der neuen Generation – der UltraVision-II-Plattform – hat Rigol die Blindzeit im Vergleich zur Vorgängergeneration nun noch einmal deutlich verringert, die Kurven-Wiederholrate mehr als verfünffacht und auch die Speichertiefe deutlich erhöht.

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1. Aus UltraVision I wird UltraVision II
2. Zusätzliche Funktionen und Optionen bei Oszilloskopen

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