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GaN-Leistungshalbleiter charakterisieren

Herausforderung GaN-FET-Test

Die dynamische Charakterisierung von Leistungshalbleitern mit großer Bandlücke ist eine echte Aufgabe. Vor allem Leistungshalbleiter-FETs aus Galliumnitrid machen Probleme, weil ihr Betrieb mit höheren Frequenzen und verschiedenen Technologien…

Neue Partner an Bord

Keysight baut europäisches Distributionsnetz aus

Der Messtechnikhersteller hat zwei neue Vertriebsunternehmen in sein expandierendes…

Neue 8-Kanal-Oszilloskope von Keysight

In allen Belangen aufrüstbar

Vollständig aufrüstbar von vier bis acht analogen Kanälen, von 500 MHz bis 2,5 GHz und von…

Messtechnik bleibt Innovationstreiber

Das sind die Megatrends der Messtechnik

Megatrend – dieses Schlagwort wird mittlerweile nahezu inflationär gebraucht. Und doch: So…

Projektsoftware für Entwicklungsteams

PathWave bekommt Cloud-Rechenleistung

Keysight erweitert seine Software-Plattform um fünf Module. Wesentliche Neuerung ist ein…

Hohe Anforderungen trotz einfacher Kabel

USB4 testen

Dank universeller Standards wie USB, DP und Thunderbold ist der USB-Typ-C-Stecker heute…

Keysight Technologies

Zwei Wechsel in der Führungsriege

Gleich zwei Personalien vermeldet Keysight Technologies. Satish Dhanasekaran hat zum…

Leistungshalbleiter charakterisieren

Zuverlässigere Doppelpulstests

Beim Charakterisieren von Leistungshalbleitern treten Störeffekte durch…

Schaltnetzteile besser entwickeln

Digitaler SMPS-Zwilling zeigt »Was wäre, wenn«

Ein neuer Workspace von Keysight und Rohm soll Entwicklern die schnelle Anpassung von…

Keysight

Zweitgrößter Geschäftsbereich unter neuer Leitung

Keysight Technologies hat Ee Huei Sin zur neuen Leiterin des Geschäftsbereichs Electronic…