Produkt

Halbleiterfertigung

Advertorial

Neue Technologien für die Überwachung in Halbleiterprozessanlagen

Erfahren Sie in dem kostenfreien Webinar am 8. Juni, welche neuen Technologien und Optionen es für die Echtzeit-Überwachung von Aerosolpartikeln in Halbleiterprozessanlagen gibt und wie man Partikeldaten zur Fehlerbehebung und Verbesserung der allgemeinen Werkzeugsauberkeit nutzen kann.

Aixtron investiert

Neues Innovationszentrum

Bis zu 100 Mio. Euro will Aixtron in ein neues Innovationszentrum am Standort in...

Kampf der Giganten

Erbittertes Rennen um 2-nm-Prozesse

Samsung und TSMC liefern sich ein Kopf-an-Kopf-Rennen, um beim 2-nm-Prozess der erste...

Silizium-Wafer

Minus 9 Prozent im ersten Quartal

Die Zahl der verkauften Siliziumwafer sank im ersten Quartal 2023 gegenüber dem...

Newly elected COGD board

»Obsolescence risks persist!«

Commodities, materials, software, electronic components and other replacement...

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ASMPT

Power für Elektromobilität

Als eine der größten Herausforderungen bei der Mobilitätswende betrachtet ASMPT das...

Germanium-Zinn

Eine neue Alternative zu Silizium-Transistoren

Wissenschaftler des Forschungszentrums Jülich haben einen Germanium-Zinn-Transistor...

Firmenchef hofft auf zweite Jahreshälfte

Intel mit Umsatzeinbruch und Milliardenverlust

Intel muss Milliarden in neue Chipfabriken stecken, um seine Zukunft zu sichern. Doch...

Für AR- und VR-Produkte

Nanoimprint und Inkjet kombiniert

Mit Hilfe der Kombination von Nanoimprint-Lithografie und Inkjet-Printing können...