Produkt

Forschung und Lehre

Wissenschaftspreis f. Industrieforschung

Neue Messmethode für die Wafer-Inspektion

Wissenschaftler am Fraunhofer IISB haben ein neuartiges optisches Messverfahren entwickelt, das kleinste Unebenheiten auf spiegelnden Oberflächen erkennt – beispielsweise auf Silizium-Wafern. Mit dieser Methode ließe sich die Ausbeute bei der…

Technical University Darmstadt

Particle Accelerator on a Microchip

Electrical engineers at TU Darmstadt have developed a laser-driven electron accelerator…

TU Darmstadt

Teilchenbeschleuniger auf einem Mikrochip

Elektrotechniker der TU Darmstadt haben einen lasergetriebenen Elektronenbeschleuniger…

ETH Zürich

Millimeterwellen für die letzte Meile

ETH-Forscher haben einen Modulator entwickelt, mit dem durch Millimeterwellen übertragene…

Imec/CEA-Leti: Partnerschaft

Künstliche Intelligenz und Quantum Computing

Das belgische Forschungszentrum imec und das französische Forschungsinstitut CEA-Leti…

Infrastruktur für 5G

Erste THz-Richtfunkstrecke mit bis zu 100 Gbit/s

Über Glasfasern sollen 5G-Mobilfunkstationen mit dem »Backhaul« verbunden werden. Doch es…

DLR (mit Video)

Erstmals Flatteranalyse in Echtzeit

Das Auf und Ab einer Tragfläche in der Luft hat schon so manchen Fluggast nervös gemacht.…

Kommentar

Autobauer sind innovativer als gedacht

Der Dieselskandal hat das Image der Auto-Industrie ziemlich ramponiert. Zudem wird ihr…

Beziehungsprobleme

Frustrierte Moleküle radikalisieren sich

Wasserstoffmoleküle müssen für chemische Reaktionen meist mit giftigen und teuren Edel-…

TU Chemnitz

Graphendrähte leiten Elektronen ohne Erwärmung

Leiterbahnen ohne elektrischen Widerstand würden Erhitzungsprobleme entschärfen und…