Produkt

Baugruppen-/Leiterplattentest

Prüft DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Multifunktionaler Memory-Tester

Sowohl für den Wafer Sort als auch für den Endtest unterschiedlichster Speicher-Bausteine wie LPDDR3-DRAMs, High-Speed-NAND-Flash-Speicher und nicht-flüchtige Memory-ICs der nächsten Generation eignet sich der neue Memory-Tester T5833 von Advantest.

Inspektion transparenter, spiegelnder und…

3D-Infrarot-Scanner mit Roboteranbindung

Aimess bietet den 3D-Infrarot-Scanner R3Dscan nun auch in einer robotergeführten Variante…

Viscom

Präzise Plasmalack-Prüfung

Für das Conformal-Coating-Inspektionssystem S3088 CCI von Viscom ist ein neues Feature…

Röntgeninspektion für die Formel 1

Yxlon ist technischer Partner des Lotus F1 Teams

Der britische Formel-1-Rennstall Lotus F1 hat Yxlon zum offiziellen technischen Partner…

Bauteil- und Geräte-Tests

Neue Technik, neue Tests

Entwicklungen neuer Techniken und immer kleinerer und besserer Bauteile erfordern Tests,…

Prüftechnik Schneider & Koch

AOI und elektrischer Test im Fokus

Prüftechnik Schneider & Koch setzt die Schwerpunkte auf der SMT/Hybrid/Packaging 2015 auf…

Industrielle Messtechnik

Yxlon und Hexagon Metrology kooperieren

Hexagon Metrology und Yxlon International wollen die industrielle Messtechnik und die…

Viscom

3D-AXI-System mit Flat-Panel-Detektor

Ab sofort gibt es das 3D-Inline-Röntgensystem X7056 von Viscom auch mit…

Leica Microsystems

Mikroskope für die Materialanalyse

Für die detailreiche Inspektion und Analyse von Proben im Bereich Mikroelektronik und…

Elektrischer Leiterplattentest

35 Jahre Digitaltest

Digitaltest feiert Geburtstag: Vor 35 Jahren begann das Unternehmen als kleine…