Prüft DRAM- und NAND-Flash-Speicher
Multifunktionaler Memory-Tester
Sowohl für den Wafer Sort als auch für den Endtest unterschiedlichster Speicher-Bausteine wie LPDDR3-DRAMs, High-Speed-NAND-Flash-Speicher und nicht-flüchtige Memory-ICs der nächsten Generation eignet sich der neue Memory-Tester T5833 von Advantest.
Er erreicht eine parallele Testkapazität von 2048 Bauteilen beim Wafer Test und von 512 Bauteilen beim Endtest.
Neben der Unterstützung von Known-Good-Die-Tests mit einer Geschwindigkeit von bis zu 2,4 Gbps zeichnet sich der neue Tester durch eine flexible Site-CPU-Architektur mit mehreren CPUs aus, die eine optimale Steuerung der Testprozesse ermöglicht.
Das neue System bietet laut Advantest branchenweit einzigartige Möglichkeiten hinsichtlich der High-Speed-Defekt-Adressspeicherung und der Defekt-Analyse.
Dank des modularen Aufbaus lässt sich das T5833 individuell konfigurieren, von der Engineering-Station bis hin zum großen System für die Volumen-Produktion. Damit ist es auch auf künftige Bauteil-Generationen vorbereitet.
Jobangebote+ passend zum Thema
Lesen Sie mehr zum Thema
Das könnte Sie auch interessieren
Advantest
Die-Handler für Known-Good-Die-Tests
Advantest
Flexibles Memory-Testsystem
Advantest
EVA100-Produktionsmodell
Advantest
Tester für die SSD-Entwicklung
Advantest
Testsystem für DDR4- und LPDDR4-Speicher
