PXI-Express-Hochgeschwindigkeits-SMU

Sehr Schnell und stabil

3. Juni 2016, 10:24 Uhr | Matthias Heise
Die SMU M9111A ist Bestandteil von Keysights Referenz-Testlösung für HF-Leistungsverstärker und Front-End-Module.
© Keysight Technologies

Zum ersten Mal stellt Keysight Technologies eine SMU im PXI-Express-Format vor. Durch kurze Einschwingzeiten und hohe Stabilität bei Laststromspitzen und Bereichsumschaltungen ist die SMU für den Produktionstest von HF-Leistungsverstärkern und Mobilfunk/Wireless-Front-End-Modulen geeignet.

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Keysight Technologies präsentiert seine erste SMU (Source/Measurement Unit) im PXI-Express-Format: M9111A. Die Hochgeschwindigkeits-SMU M9111A zeichnet sich durch sehr kurze Einschwingzeiten von weniger als einer 1 ms aus. Das gilt sowohl für Ausgangsspannungsänderungen als auch für Strom-messungen im Mikroampere-Bereich. Das neue PXIe-Modul ist um den Faktor 20 schneller als Keysight Labor-SMUs der vorigen Generation und zudem wesentlich kleiner.

Die SMU M9111A kommt problemlos mit der pulsartigen Stromaufnahme von HF-Leistungsverstärkern zurecht. Während der Laststromspitzen sinkt die Ausgangsspannung nur für sehr kurze Zeit minimal ab und erreicht sehr schnell wieder den programmierten Wert. Das gewährleistet, dass die Messergebnisse nicht durch die Betriebsspannungsquelle verfälscht werden. Das Modul arbeitet bei Ausgangs- und Messbereichsumschaltungen glitchfrei – auch bei hohen kapazitiven Lasten. Ausgangsspannung und Ausgangsstrom bleiben konstant, und der DUT ist vor Beschädigung sicher.

Die neue 2-Quadranten-SMU beansprucht nur einen einzigen PXIe-Steckplatz und liefert bis zu 18 W Ausgangsleistung (max. 13 V/±1 A oder max. 6 V/±3 A). Die SMU M9111A vereint in sich die Funktionen einer Spannungsquelle, einer Stromquelle, eines Amperemeters und eines Voltmeters.

Die SMU M9111A ist Bestandteil von Keysights Referenz-Testlösung für HF-Leistungsverstärker und Front-End-Module. Diese ermöglicht eine schnelle und vollständige Charakterisierung von Leistungsverstärkermodulen der nächsten Generation mittels S-Parameter-, Demodulations-, Leistungs, Nachbarkanalleistungs- und Oberwellenmessungen.


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