Boundary-Scan-Test
Komplexe Leiterplatten erfordern alternative Testmethoden
Die zunehmende Komplexität von Medizingeräten hat die Verwendung von BGA-Baugruppen vorangetrieben. Der physische Zugriff auf die Pins eines ICs ist heutzutage oft unmöglich, sodass Methoden zur Fehlersuche neu bewertet werden müssen.