Herausforderung Zuverlässigkeit
Überwachung von ICs
Die Überwachung und Regelung von stark belasteten Bauelementen
in ICs stellt eine neue Strategie zur Erhöhung der Zuverlässigkeit da. Ein Beispiel dafür ist das Monitoring von schädlichen Stoßionisationsprozessen durch nahe am Transistor integrierte…