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Galliumnitrid-Transistoren

Einheitliches Testverfahren für den dynamischen On-Widerstand

Ein zentrales Anliegen von Anwendern von GaN-HEMTs ist der dynamische On-Widerstand. Mit dem Dokument JEP173 hat das JEDEC Wide Bandgap Power Semiconductor Committee JC-70 dazu nun ein einheitliches Messverfahren veröffentlicht.

Wie gut sind SPICE-Modelle für OPVs?

Ausgangsimpedanz im Leerlauf unter der Lupe

Haben sie je hinterfragt, ob das SPICE-Modell des gewählten Operationsverstärkers auch mit…

Texas Instruments

Fab in Greenock geht an Diodes

Diodes kauft die Fab von Texas Instruments in Greenock in Schottland.

Umsatzvolumen von knapp 13,5 Mrd. Dollar

MEMS-Bedeutung im Automotive-Bereich könnte schrumpfen

Mit einem Umsatzwachstum des Welt-MEMS-Marktes von 5,5 Prozent rechnen die Analysten von…

Temperatursensor TMP117

Hohe Genauigkeit ohne Kalibrierung

Texas Instruments präsentiert mit TMP117 eine neue Temperatursensor-Familie, die über…

Wie gut sind SPICE-Modelle für OPVs?

Anstiegsgeschwindigkeit und Eingangs-Klemmdioden testen

Haben Sie je hinterfragt, ob das SPICE-Modell des gewählten Operationsverstärkers auch mit…

Energieeffiziente Schaltungsdesigns

Kühl, klein und schnell mit GaN

73 Milliarden Kilowattstunden an Energie werden die Rechenzentren in den USA laut einer…

Wie gut sind SPICE-Modelle für OPVs?

Prüfen der Eingangs-Offsetspannung und der Gleichtaktspannung

Haben Sie je hinterfragt, ob das SPICE-Modell des gewählten Operationsverstärkers auch mit…

Lineare Ladegeräte

mHealth ist nichts für Stromsparer

Medizingeräte werden kleiner, leichter und vernetzter. Für Patient und medizinisches…

TechMatch von TI

Texas Instruments lädt erneut zum Startup Pitch

Ein Abend, zwölf Start-ups und acht Minuten Zeit, um zu überzeugen: Der…