Hardware-in-the-Loop-Tests sind geeignet, um die komplexen Interaktionen der Elektronikbauteile und der Leistungselektronik durchzuspielen. Dabei sind alle angreifbaren Schnittstellen im Steuergerät testbar, also auch Teilfunktionen absicherbar. Die Fehlersuche gestaltet sich dadurch einfacher. Es können auch Garantiekennlinien überprüft werden, nach denen entsprechende Funktionen der Leistungselektronik implementiert wurden, und das bis an die Grenzen von Strom/Spannung und Drehzahl, die in den realen Tests an Fahrzeugen oder Maschinenprüfständen bei Parametrierungsfehlern auch zu Bauteilschäden führen können. Durch die einfache Parameteranpassung zur Optimierung und die konstante Reproduzierbarkeit können Fahrprofile zur Ermittlung der Verbrauchsoptimierung schon in frühen Entwicklungsphasen simuliert werden. Dabei werden alle beteiligten Komponenten der Antriebsstränge berücksichtigt. Eine umfassende HiL-Teststrategie hilft nicht nur durch frühe Identifikation von Fehlern bei der Verringerung von Entwicklungskosten, sie verringert auch den Aufwand mit gefährlichen Hochspannungstests und ermöglicht automatisierte Testreihen zu Konfigurationsvarianten. Frühzeitig eingesetzt, erlauben HiL-Tests die konsequente Verfolgung der Verbrauchsziele von Hybridfahrzeugen - angefangen von der Konzeptphase bis zu Kontrollfahrten nach deren Serieneinführung.